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荧光分析法测定金属铝箔中的微量镓 总被引：1，自引：0，他引：1
Ga~(3 )与Al~(3 )两者离子半径相近,化学性质类似,因此镓是金属铝中常见的杂质之一。荧光法是金属铝中微量镓测定的常用方法。应用表面活性剂的,见于镓-荧光镓(或其同系物)测定体系。8羟基喹啉(Oxine)曾用于硅酸岩中微量镓的萃取-荧光测定。本文研究了Ga~(3 )-Oxine-表面活性剂体系荧光测定的合适条件,并应用于金属铝箔中微量镓的测定。 相似文献
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