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引言离子束(能量从数百千电子伏到数十兆电子伏)透过薄箔(厚度数十微克/厘米~2)受激发光,曾因其所发射谱线极其丰富(从可见光、紫外光直到X射线区)而在六十年代受到广泛注意。由于束离子通过薄箔的时间(10~(-14)—10~(-15)秒)大大短于原子激发态的寿命(～10~(-8)秒),束箔光谱方法可与飞行时间技术相结合而用以测定激发态平均寿命。更 相似文献
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