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1.
用椭圆偏振仪测量了O+2 注入Si后的椭偏参数Φ和Δ ,给出了离子注入辐射损伤与注入剂量和注入能量的关系 .同时 ,对离子注入片在N2 气氛中进行等时热退火 ,测量了Φ和Δ ,给出了O+2 注入Si的退火特性 .结果表明 :O+2 注入Si的退火特性曲线 ,对不同的注入剂量和注入能量分别为“V”形和“W”形 .对此结果 ,我们进行了初步地分析和讨论  相似文献   
2.
P2P技术引导着网络计算模式从集中式向分布式偏移,可以更好地解决网络上的对等计算、协同工作、文件交换等大型应用.本文介绍了一种基于P2P的多机通信机制,系统中各结点为逻辑环结构,结点动态的加入、退出,由邻接点对其请求进行响应,从而大大减少了网络通信量,并在此通信机制的基础上给出了一种自适应动态负载平衡算法.  相似文献   
3.
用椭圆偏振仪测量了O^ 2注入Si后的椭偏参数Φ和△。给出了离子注入辐射损伤与注入剂量和注入能量的关系,同时,对离子注入片在N2气氛中进行等时热退火,测量了Φ和△,给出了O^ 2注入Si的退火特性,结果表明:O^ 2注入Si的退火特性曲线,对不同的注入剂量和注入能量分别为“V”形和“W”形,对此结果,我们进行了初步地分析和讨论。  相似文献   
4.
用TPP-1型椭圆偏光谱仪测量了注入能量为50keV,不同注入剂量的N2 ^ 注入Si的折射率谱。计算了单晶硅电极化的弛豫时间,并对上述结果进行了初步地讨论。  相似文献   
5.
本文用x射线双晶衍射法测量了注入能量为140keV,注入剂量为1×1014~1×1016ion/cm2,退火温度为500℃~700℃的C+注入Si的摇摆曲线.在多层模型和试探畸变分布函数的基础上,用x射线衍射的动力学理论和最小二乘法拟合实验曲线,得到晶格畸变随注入深度的变化,以及在不同退火温度下的恢复情况  相似文献   
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