关于测度正则性的一个定理

关于拓扑空间上有限Baire 测度的正则性,这是一个熟知的事实,〔1〕中对此结果已加以推广。P.R.Halmos 于〔4〕中曾研究了局部紧Hausdorff 空间上,由全体紧G_δ集所产生的σ一环上的Baire 测度的正则性。在〔3〕中,J.Maryk 也讨论过拓扑空间上可取广义实值的Baire 测度的正则性。〔1〕,〔3〕及〔4〕中的结果,看来是互不被蕴含的。本文提出了一个较普遍的关于测度正则性的定理,其结果蕴含了〔1〕,〔3〕及〔4〕中关于各种Baire 测度正则性的结论。本文是得到〔1〕的启发,并在郑曾同教授的指导下完成的,作者谨在此表示衷心的谢意。     

关于τ-光滑测度的一点註记

設X是一拓扑空間,用C(X)記X上的全体有界連續函数空間。对每f∈C(X)記 則C(X)在所引进的范数下是一Banach空間。 設 ={Z:Z={f~(-1)[0],f∈C(X)} u={U:U=Z的余集,Z∈} 用F記由(或u)生成的代数。