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中美两国ESD失效分析研究现状及比较 总被引：1，自引：0，他引：1
随着微电子技术的迅猛发展和半导体器件尺寸的大幅度缩小,ESD失效分析已经成为微电子器件可靠性领域中的研究热点之一.概述了作为西方发达国家的典型代表美国由于ESD所造成的危害十分严重,因此美国学者对微电子器件的ESD失效分析进行了广泛研究.介绍了美国在该领域所取得的研究成果及进展状况并与我国学者所做的研究作了比较.美国在这领域所取得的新成果、新技术、研究所采用的新方法等等对我国的科学工作者是很有借鉴意义的. 相似文献
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介绍了虚拟仪器的软硬件系统,初步设计了利用现有模块和LabVIEW来测量静电电阻和静电电压的虚拟仪器,从而使静电测试变得更容易、更灵活、更智能. 相似文献
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