光热反射技术测量材料热扩散率的一种新方法

提出一种利用调制光热反射(MPR)技术测量固体材料热扩散率的新方法.通过比较待测样品与已知热扩散率材料幅频特性的差异,得到待测样品的热扩散率.理论分析表明,在利用MPR频响法测量材料热扩散率时,该方法无需测量泵浦和探测光斑半径的大小,可有效地避免泵浦和探测光斑半径的测量误差对热扩散率测量的不利影响.实验结果说明了上述方法的可行性.     

利用光热光偏转技术测量固体热扩散率的新方法

基于光热光偏转技术的基本原理,通过分析光热光偏转的时变信号,利用偏转信号的动态变化来测量固体的热扩散率,并对热扩散率相差较大的一系列材料的热学参数进行了实验研究.结果表明,该方法与传统的光热光偏转技术测量材料热扩散率方法相比,具有实验装置简单、测量方便快捷等优点.     

动态集成电路的光声分层成像

利用压电光声技术，对处于工作状态的集成电路器件进行了光声分层成像。同时，在理论上研究了动态集成电路的光声分层成像机理，结果表明，动态器件的光声分层成像，不仅可以突出显示器件中某些一般不易观察到的亚表面结构，而且还可研究器件的工作原理以及分析器件动态失效的原因。显示了动态光声分层成像在半导体领域的应用前景。     

粒子群优化算法在多参数拟合中的应用

提出一种新的自适应粒子群优化算法,以解决梯度法为基础的算法在进行多参数拟合时因各参数之间相关性较高而带来的拟合上的问题．该粒子群优化算法采用自适应变异和动态自适应调整搜索范围、惯性权重相结合的改进策略,数值模拟了将该算法应用于测量薄膜热物性时的多参数拟合,结果表明该算法是可行和有效的．     

Ba(Y1-xCex)2Si3O10的光声光谱分析研究

室温条件下测定了Ba(Y1-xCex)2Si3O10(x=0.05,0.07,0.09)的漫反射吸收光谱、光声振幅谱和光声相位谱.由于高浓度掺杂使得Ce3+与Ce3+之间发生有效能量传递,从而导致Ba(Y1-xCex)2Si3O10(x=0.05,0.07,0.09)的漫反射吸收光谱强度依次降低,光声光谱强度依次增大.利用光声振幅谱结合相位谱的方法研究发光效率随掺杂浓度的变化,发现Ba(Y1-xCex)2Si3O10(x=0.05,0.07,0.09)3种不同掺杂浓度试样的发光效率依次降低.     

Ba(Y1-xCex)2Si3O10的光声光谱分析研究

室温条件下测定了Ba(Y1-xCex)2Si3O10(x=0.05,0.07,0.09)的漫反射吸收光谱、光声振幅谱和光声相位谱.由于高浓度掺杂使得Ce3+与Ce3+之间发生有效能量传递,从而导致Ba(Y1-xCex)2Si3O10(x=0.05,0.07,0.09)的漫反射吸收光谱强度依次降低,光声光谱强度依次增大.利用光声振幅谱结合相位谱的方法研究发光效率随掺杂浓度的变化,发现Ba(Y1-xCex)2Si3O10(x=0.05,0.07,0.09)3种不同掺杂浓度试样的发光效率依次降低.     

扬声器低频谐波跳跃

通过能量法求解扬声器非线性振动系统的非线性微分方程的一阶近似解，得出幅频关系方程和谐波失真与频率关系曲线，并着重分析讨论了磁场的非线性对扬声器低频谐波失真跳跃的影响，得出了一些结论。     

基于LabVIEW的光声光谱检测系统

设计了一套基于LabVIEW的光声光谱检测系统,可通过计算机实现仪器控制、实验参数设置、数据自动采集和处理,以及动态监控实验过程和实时显示实验结果.用该系统测量了Er2O3的光声光谱,所得结果与其标准光声谱线一致.实验结果表明:该系统操作简便、性能稳定,可广泛应用于固态样品的光声光谱检测.     

阶跃光激励下半导体的温度变化

建立了阶跃光激励下半导体材料温度变化的一维理论模型.采用本征函数法得到了阶跃光激励下半导体中光生载流子和温度随时间的变化关系,并研究了少数载流子寿命对这种变化的影响.同时,利用阶跃光激励的光热光偏转实验研究了少数载流子寿命不同的半导体样品的光热光偏转信号.实验结果与理论结果符合较好,表明阶跃光激励的光热技术可用于对半导体材料参数进行表征.