基于混沌映射的图像加密硬件实现结构

为了使图像加密硬件化和实用化,针对图像加密系统所需的置换、替代和扩散3种基本要素,提出了一种采用双RAM连接,加/解密过程多轮次、可复用的硬件实现结构.该实现结构通过地址产生器得到置换地址,与地址计数器配合完成像素的位置置换;通过灰度扩散与像素替代单元完成灰度的扩散与替代.验证中采用广义猫映射进行像素位置置换,将单向耦合映射格点用于像素的替代,并与灰度扩散相结合,两种混沌映射多轮次交替使用.分析和实验证明,该结构具有复用性好、吞吐率高且面积节约等特点.现场可编程门阵列验证表明,在200 MHz时钟频率下,进行4轮加/解密时的吞吐率分别达到4.17 Mbyte/s 和3.85 Mbyte/s.     

基于Blob分析的芯片管脚检测方法

机器视觉在工业产品质量控制中的应用越来越广.针对SOP器件的引脚质量检测问题,提出了一种基于Blob分析和质心定位方法的引脚平整度及间距测量算法,首先通过图像增强及预处理,从图像中分离出引脚,然后通过Blob分析的方法进行管脚数量和位置的检测,最后通过质心梯度的方法进行引脚质量检测.该方法计算简单.是一种有效的芯片引脚实时检测方法.     

一种面向包含式缓存的共享末级缓存管理策略

针对传统LRU替换策略无法感知包含式缓存时间局部性的问题,提出一种适用于包含式缓存的共享末级缓存(SLLC)管理策略. 通过提前将无用数据存储于一个开销较小的旁路缓存,可以避免其与复用频率较高数据对SLLC的资源竞争,同时维护了包含属性. 为进一步寻找复用性最低的数据作为替换对象,构建一种局部性检测电路,有助于将此类数据尽早驱逐出SLLC,文中提出一种统一的管理算法,受益于两种预测器的相互校准,从而达到无用块旁路和低重用块替换的目的. 实验结果表明,所提策略将SLLC缺失率平均降低21.67%,预测精度提升至72%,而硬件开销不到SLLC的1%.      

复用存储控制接口的高性能SoC测试结构

为缩短SoC的测试时间并减少测试硬件开销,提出一种高性能SoC测试结构. 通过重用存储控制逻辑作为测试接口,可以消除传统双向测试总线寄生的时间间隙,同时建立的流水化测试时序,避免了测试通道中引入的关键路径;针对功能和结构双重测试需求,复用片上总线系统作为测试访问机制结构并对其进行无损式改造,减少了测试访问的等待时长;同时构建的一种不依赖于目标核的测试环,维持了测试通道与扫描链之间的带宽平衡. 实验结果表明,引入的测试结构使得测试时间缩短68%,面积开销下降36.1%,同时有效降低了对原始芯片性能的影响.