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1.
一种集成SPC与EPC的过程控制方法   总被引:2,自引:0,他引:2  
在多品种、小批量生产模式下,不合格品经常发生在由一种水平过渡到另一种水平的暂态阶段.采用由一阶动态过程和稳态干扰ARMA(1,1)组成的系统模拟制造过程,针对当输入发生阶跃变化时过程出现的暂态阶段,设计了集成统计过程控制(SPC)与工业过程控制(EPC)的过程控制方法.以往,SPC与EPC是减少过程波动的两种截然不同的方法,而集成控制方法是应用ARMA控制图对制造过程进行监视,同时PI控制器对过程进行调整.模拟结果表明:集成控制方法不但能减少过程输出波动,提升系统性能;并且在调整涉及成本因素时,集成控制方法更具有潜在的成本优势.  相似文献   
2.
为了有效地利用控制图技术,用指数加权滑动平均方法,对由于刀具磨损导致轴尺寸精度呈线性趋势变化进行预测,提出了应用MCEWMA控制图监视刀具磨损过程.在刀具使用期内,将刀具磨损及由刀具磨损带来的随机波动视为共同原因,对生产过程进行监视,避免了使用传统控制图时,产生频繁报警的弊端.最后,运用具体例子,说明控制图参数选择准则.  相似文献   
3.
对过程实施统计质量控制的基本假设前提是观测值彼此独立,但实际工作中经常出现过程的观测值存在自相关的现象.若自相关过程的残差满足独立同分布条件,对残差实施控制图监视是解决自相关过程控制的方法之一.应用检测能力指数和平均运行长度两种衡量指标,分析了自相关过程由时间序列模型AR(1)描述时,残差控制图对过程均值变化的检测能力.结果表明,残差EWMA(φ≤1-λ)控制图对过程均值小偏移较灵敏,当φ<0时,残差EWMA控制图对过程均值大偏移的检测能力略差于残差Shewhart控制图.  相似文献   
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