CdSe量子点在金岛薄膜表面的荧光增强现象研究

通过水相合成的方法制备获得CdSe量子点,实验发现CdSe量子点在金岛薄膜表面的荧光比在玻璃表面荧光增强4倍,荧光寿命缩短一半左右。利用荧光光谱、透射电镜、原子力显微镜和荧光衰减等手段对荧光增强现象进行了分析表征。研究表明,CdSe量子点在金岛薄膜表面出现的荧光增强和寿命缩短现象,与等离子体效应导致的局域电磁场增强和固有辐射速率加快有关。     

匀变速运动中编码器细分误差分析方法的研究(英文)

编码器的误差不仅与位置有关,还与速度、加速度等运动参数有关,分析编码器细分误差的产生原因,给出细分误差的计算公式,建立了匀变速运动中编码器光电信号的数学模型,通过计算机模拟仿真,提出了匀变速编码器光电信号参数特征的提取方法,即对实际采集的信号进行等间隔处理后,进行谐波分析,可以恢复出较真实的光电信号参数,进而计算出细分误差,最后给出了本方法的适用条件。     

一种计算特征γ峰面积的新方法

利用脉冲快热中子分析技术,采用一种新的计算方法———最小相对误差法,对煤质进行了分析.结果表明:测量氢的质量分数的结果重复性小于0.15%,再现性小于0.25%,测量精度达到工业应用的要求.     

哈制药厂工业X射线探伤室的辐射防护评价

根据辐射防护基本原则及相关国家标准,用X射线探伤室屏蔽厚度的计算方法,对哈制药厂工业X射线探伤室的屏蔽厚度进行了计算。并与实际屏蔽厚度进行了对比,得出了实际屏蔽厚度均符合辐射防护要求结论。通过对X射线探伤室的屏蔽效果进行现场检测,得出了哈制药总厂X射线探伤室的辐射防护符合国家《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》的结论,从而给出了一种工业X射线探伤室的辐射防护评价方法。     

应用于脉冲快热中子分析技术中的新解谱方法

介绍了一种应用于脉冲快热中子分析技术中的新解谱方法。此方法采用9道计数的和去寻找元素特征γ峰的峰位，利用相对误差的最小值确定特征γ峰的左右边界。利用此方法，已经使测量精度达到了煤质分析的要求，并且研制出脉冲中子煤质快速分析仪。     

双效蒸发在己二酸工艺硝酸增浓中的应用

在硝酸氧化醇酮法生产己二酸工艺中，硝酸作为氧化剂，氧化反应后过量稀硝酸经装置设有的蒸发系统增浓后回用于生产中。本文对己二酸装置硝酸增浓双效蒸发系统运行中的关键参数进行了整理、核算、分析，将系统实际操作的各工况与设计值加以比较，查找该系统中存在的问题，并将研究结果用于优化系统。与原单效蒸发系统的对比可知，若处理相同量的稀酸，双效蒸发系统可节约蒸汽用量一倍左右，污水排放量减少80％左右，双效蒸发系统节能降耗减污效果均较显著。     

编码器光电信号参数变化对莫尔条纹质量的影响

提出一种光电轴角编码器动态精度检测的简便、易行的方法.该方法以liddsjou图形为基础,即使在不等速旋转条件下,也能对编码器光电信号的动态参数进行分析.光电轴角编码器的莫尔每纹信号质量是细分误差大小的决定性因素.提高编码器精度可以通过减小细分误差的方法来实现,即:提高莫尔条纹信号质量.建立了莫尔条纹信号的数学模型,利用VB编制的仿真程序模拟编码器光电信号参数变化对莫尔条纹信号质量的影响.对直流电平偏移、信号幅度不等、信号不正交、信号含有高次谐波等,进行了计算机仿真,由仿真结果可对光电信号参数偏离理想值的情况作出判断,实现了对编码器莫尔条纹信号质量的检测,对编码器动态精度检测具有重要意义.