自主机器人人工进化方法研究

在介绍人工进化研究状况的基础上 ,着重阐述了进化机器人学的关键问题 :基本概念、进化技术、进化计算和实验研究方法等 ,探索了进化机器人学未来的研究趋势及所面临的挑战 .     

Environmental Friendly Route and Wool Shrink Proofing

The shrink proofing on wool with treatment of protease named Argaenzyme STL was studied. The various pretreating auxiliaries, different parameters for protease treating process and the effect of stabilizer were discussed in detail. The varieties of some properties before and after protease treatment were also investigated.     

产品竞争力的分析方法

为了提高产品的市场竞争力，必须采取一定的方法对产品进行竞争力分析。本文提出了一种实用的、基于客户价值的产品竞争力分析方法，该方法通过产品量化的客户感知价值和客户感知成本的组合比较，确定了产品的相对竞争力。     

Permutation Analysis of Track and Column Braiding

Introduction Trackandcolumnbraidingisanavailable3D braidingmethod[1～3],whichperformsbraidingprocessbymovingbraidingcarriersalongroworcolumndirection alternatively.LiandDing[4]examinethebraidingmethod andconcentratetheirstudyonthemovementofbraiding carriersonthebraidingplatform,onwhichthebraiding tracksarelocated.Accordingtothebraidingprinciple,a studyofbraidingprocessisactuallyastudyofthemovingpatternofyarnendsonthebraidingplatform.Intheiranotherpaper[6],thepositionsofbraidingcarriersare r…     

概化理论在教学水平测评中的应用

运用概化理论,对高校教师教学水平测评问题进行设计,定量研究评分者因素对高校教师教学水平测评信度与一致性的影响,并研究减少评分者人数的可行性.     

超声波在还原染料染色中的应用研究

本文是继文献[1]、[2]之后,对超声波染色进行理论分析的实践证明之后,以还原染料上染纯棉织物的小试入手,讨论了超声波对还原染料染色的可能性。结果表明,采用超声波染色技术,不但可以提高染料的上染百分率,增加匀染、透染性,还可以实现织物的低温短时间染色,同时还可以采用较少的染料获得实验所要求的色泽深度。具有广阔的发展前景。     

通道不一致性、互耦对最优阵列处理器的影响

本文研究了通道幅相不一致性、互耦这两种误差对最优阵列处理器性能的影响。理论分析结果表明,对于只利用干扰加噪声协方差矩阵求逆的自适应方法(简称NAMI法),当干噪比(JNR)较大时,这两种误差不会导致零点位置的漂移,但零点深度有所变化;对于信号加干扰和噪声协方差矩阵求逆自适应方法(简称SPNMI法),当信噪此(SNR)较小或较大时,零点位置变化不大,但性能损失比NAMI法严重得多。如果能加以补偿,则SPNMI法与NAMI法有相同的结果。我们用矩量法计算得到的互耦矩阵对此进行了仿真模拟,实验结果证明了理论分析的正确性。     

带有非相参积累的序列统计恒虚警检测器

雷达检测中,为了改善检测性能经常采用非相参积累的方法以获取高信杂比的目标回波,本文讨论了平方律检波后带有非相参积累的序列统计恒虚警检测器,分析了Swerling起伏目标情况下的检测性能,并介绍了该检测器在实际工作中的一种应用。     

深孔分段爆破法掘进采空区充填井成井的研究

采空区掘进充填井是一次回采嗣后块石胶结充填采矿法的关键。如不解决,采空区将不断扩大,势必造成地压危害和残留空场硫铁矿矿石氧化自然发火。而新桥硫铁矿采空区已达10~4m~3以上。解决采空区充填井已是燃眉之急。采用SQZ-1型潜孔钻车钻凿深孔而后分段爆破成充填井的成功,既解决了新桥矿采空区充填问题,又解决了其他方法不能掘进采空区充填井的问题,对类似矿山有较大的推广应用价值。     

硅栅CMOS集成电路测试图形的研究

本文介绍了用于硅栅CMOSIC园片级工艺诊断和可靠性监控的微电子测试图形。重点论述了(1)用于检测漏、源及多晶硅薄层电阻和因扩散及腐蚀引起的横向变化量的组合结构,(2)用于监测CMOSIC动态参数的结构设计及其对工艺的评价。