Pb-Sb-Te三元合金相图500℃等温截面的实验测定

为了获得在PbTe基热电材料中掺杂Sb后的相关系,文中对Pb-Sb-Te三元系500℃等温截面进行了实验测定及相关系的分析研究。采用XRD、SEM及能谱仪对合金样品进行了测试分析,研究结果表明:Pb-Sb-Te三元合金体系500℃等温截面由5个单相区、4个两相区和5个三相区组成。其中,5个三相区分别是PbTe+Sb+δ,PbTe+δ+SbTe,PbTe+Sb2Te3+Te,PbTe+Pb+Sb和PbTe+Sb2Te3+SbTe;在500℃时,Sb元素在PbTe相中的固溶度为2.03at.%,Pb在Sb2Te3相中的固溶度较高,达到7.17at.%;此外,在500℃下Pb-Sb-Te三元合金系中并未出现文献报道的Pb2Sb6Te11三元相。原因可能是Pb2Sb6Te11是一种亚稳态相,其性质不稳定,只可稳定存在于855K(≈580℃)的这个温度点,而本研究测定的是Pb-Sb-Te三元系合金在500℃下的等温截面,与580℃有偏差,Pb2Sb6Te11可能已分解为PbTe和Sb2Te3相,因此没有观察到Pb2Sb6Te11相的存在。     

500℃下 Ho-Ni-Ti三元合金系的相关系和相关化合物的基本特征

利用X射线衍射、差热分析、扫描电子显微镜和能谱分析等方法,测定了Ho-Ni-Ti三元合金系500℃时的等温截面,分析了此截面上所存在的中间相,确定了它们之间的相互关系.同时,对部分中间化合物的特性进行了讨论.实验分析结果表明此截面存在有10个二元化合物,无三元化合物.截面由13个单相区,23个两相区和11个三相区构成.     

Nb-Ni-Ti系低Ti侧三元化合物及其相平衡

采用合金平衡组织结构分析法,利用扫描电镜组织观察和能谱成分分析、电子探针定量成分分析以及X射线衍射结构分析,并结合热分析,对Nb-Ni-Ti系低Ti侧化合物XB及其相关相平衡进行了研究.结果表明,在Nb-Ni-Ti三元系1000℃和1100℃等温截面相图中都存在着三相区XB+(Nb)+TiNi,化合物XB可与Nb基固溶体(Nb)和TiNi相保持固态相平衡直到约1133℃.Nb-Ni-Ti三元系在1133℃发生三相共晶转变LTiNi+XB;由于液相L的形成,XB相不再与TiNi相和Nb基固溶体平衡.1150℃时Nb-Ni-Ti三元系等温截面相图中存在着XB+(Nb)+L三相区,XB相与Nb基固溶体和液相平衡共存.     

Ni-Pt-Ta三元系1 423 K等温截面的测定

运用三元扩散偶技术测定了Ni-Pt-Ta三元系1 423 K的等温截面,用电子探针微区成分分析方法分析了Ni-Pt-Ta三元扩散偶的相区成分,并对其相关系进行了研究.测得Ni-Pt-Ta三元扩散偶中有6个二元化合物Pt3Ta, Pt2Ta, Ni3Ta, Ni2Ta, NiTa和NiTa2.Ni3Ta与Pt3Ta形成了一个有较小固溶度的线性化合物(Ni,Pt)3Ta,未发现三元中间化合物.实验发现Ni-Pt-Ta三元系1423K的等温截面有4个三相区,即Pt2Ta+(Ta)+NiTa2;Pt2Ta+NiTa2+NiTa;Pt2Ta+(Ni,Pt)3Ta+NiTa;(Ni,Pt)3Ta+NiTa+Ni2Ta.     

Y—Co—Ni三元系1000℃恒温截面的实验研究

本文采用由纯金属组成和由稀土与Ｃｏ－Ｎｉ合金组成的两类扩散偶，辅以电子探针，金相，ＳＥＭ等手段测定了Ｙ－Ｃｏ－Ｎｉ三元相图１０００℃恒温截面上的相关系，该截面固相区范围内存在８个单相区，１０个两相区，３个三相区。     

Nb-Cr-Hf三元系1 473 K等温截面的测定

采用扩散偶技术测定Nb-Cr-Hf三元系1473K的等温截面，借助电子探针微区成分分析方法分析Nb-Cr-Hf三元扩散偶的相区成分，并对其相关系进行研究。研究结果表明：Nb-Cr-Hf三元扩散偶在1473K时生成2个扩散层NbCr2和HfCr2，而且未发现三元中间化合物；Nb-Cr-Hf三元系在1473K时的等温截面有3个三相区：（Cr）＋NbCr2＋HfCr2，HfCr2＋NbCr2＋（Hf，Nb）和（Hf）＋（Hf，Nb）＋HfCr2。     

Y─Co─Ni三元系1000℃恒温截面的实验研究

本文采用由纯金属组成的和由稀土与Ｃｏ─Ｎｉ合金组成的两类扩散偶，辅以电子探针、金相、ＳＥＭ等手段测定了Ｙ─Ｃｏ─Ｎｉ三元相图１０００℃恒温截面上的相关系。该截面固相区范围内存在８个单相区、１０个两相区、３个三相区。     

高温高压对Bi_(0.45)Sb_(1.55)Te_3热电性能的调控

采用高温高压法在30min内实现从元素粉末(Bi,Sb,Te)到块体纯相Bi_(0.45)Sb_(1.55)Te_3的快速合成,并利用X射线衍射、场发射扫描电子显微镜及高分辨透射电子显微镜表征样品的相成分和微结构,测试其在室温下的电输运性能.结果表明:高温高压法是一种简单、快速合成块体热电材料的途径;Bi_(0.45)Sb_(1.55)Te_3样品由结晶性良好的典型层状晶体构成;电阻率随合成压力的升高而增加;合成压力为2GPa的样品获得最大功率因子为10.85μW/(cm·K~2).     

Ti—Al—Y三元系相图1000℃部分等温截面重新确定

利用扩散偶局部平衡原理，通过金相观察和电子探针微区成分分析，重新测定了１０００℃下Ｔｉ－Ａｌ－Ｙ三元部分等温截面相图。首次发现该系在１０００℃存在两个三元化合物均相区Ｙ（ＡｌｘＴｉ１－ｘ）２（ｘ＝８０％￣１００％）和Ｙ３（ＡｌｘＴｉ１－ｘ）２（ｘ＝８０％￣１００％）改变了以前发表的关于Ｔｉ－Ａｌ－Ｙ三元相图１０００℃等温截面的研究结果。此外在所测部分等温截面相图中存在６个单相区，９个两相平衡区，４     

Fe-Pt-Au三元系950℃富角等温截面的研究

为了控制细小的L10-FePt纳米相均匀分布在非磁性基体中,有必要对Fe-Pt-X系的相图进行系统研究.通过合金法和扩散偶法,利用X射线衍射(XRD)、扫描电镜及能谱成分(SEM-EDS)分析确定了Fe-Pt-Au三元系950℃富Fe角处相平衡关系及各相平衡成分,从而建立了富Fe角的等温截面相图.结果表明,该等温截面存在成分范围很宽的(γFe+αAu)两相区和成分范围很窄的(γFe+L10-FePt)两相区.Pt的加入使Au在γFe中的固溶度从约4%提高到约15%(原子数分数),而大大降低了Fe在αAu中的固溶度;Au的加入使Pt在γFe中的固溶度降低,并且没有扩大(γFe+L10-FePt)...     

Sb-Se系和Ge-Sb-Te系相变光盘记录介质微观结构及光学性能研究

利用X射线衍射仪 ,分光光度计对Sb Se系和Ge Sb Te系相变光盘记录介质材料非晶态薄膜相变前后结构的变化 ,光学性能进行了系统的研究 ,X射线衍射分析表明 :SbSe非晶态薄膜退火后有Sb的析晶峰 ,SbSe2 有Se的析晶峰 ,符合化学计量比的Sb2 Se3 全部是Sb2 Se3 的共晶峰 .GeSb2 Te4 非晶态薄膜在热退火过仇逐首先形成fcc亚稳相 ,升高退火温度 ,Fcc相转变为稳定的hex相 ,GeSb4 Te4 非晶态薄膜退火后在发生上述变化的同时 ,还有Sb的析晶峰 .分光光度计测试表明 :Sb Se系非晶态的光稳定性很不理想 ,随着波长的改变 ,反射率变化太快 .对于Ge Sb Te系合金 ,在各种波段处 ,两种合金都有较大的反衬度 ,其非晶态的光稳定性也较理想 ,随着波长的改变 ,反射率变化不大     

Al－Sb－Sn三元系合金相图室温截面

用ｘ射线粉末衍射法、辅以差热分析法研究了Ａｌ－Ｓｂ－Ｓｎ三元系合金相图的室温截面，该截面山５个单相区、７个两相区和３个三相区组成。未发现有三元化合物存在，Ｓｂ和ＳｂＳｎ两个单相都有一定的均匀应区，Ｓｎ单相区很小而Ａｌ和ＡｌＳｂ有不可觉察的固溶度。     

用x射线无标定量相分析法测定合金相边界

根据x射线无标定量相分析方法和相平衡原理,本文提出一种测定合金相边界的简易方法:在三元系三相平衡区内,只要配制三个试样,便可测出这三相平衡区的相边界,用这种方法对Co+CoAl+Co_3Sn_2三相区边界进行了测定。结果表明,这种方法是行之有效的。     

铝—铜—镉三元系合金相图

本文用X射线衍射法测定了铝-铜-镉三元系合金相图。室温等温截面包含α,γ_2,δ,C_2,,θ,Al,Cd,ε,δ′,γ,β十二个单相区;二十一个双相区(即α γ_2,γ_2 δ,δ C_2,C_2 θ,θ Al,Al Cd,α β,β γ,γ δ′,δ′ ε,s Cd。α γ,α δ′ ,γ_2 δ′,γ_2 ε,δ ε,δ Cd,Cd, Cd,θ Cd);以及十个三相区(即α β γ,α γ δ′,γ_2 α δ′,γ_2 δ′ ε,δ γ_2 ε,δ ε Cd δ Cd, Cd,θ Cd,θ Al Cd).所有单相与三个二元系中的单相一致,没有新相出现.     

Te对Ni-Cr合金高温抗氧化性能的影响

采用粉末冶金方法制备含Te的Ni-Cr合金试样.在800士5℃高温进行抗氧化实验.通过氧化动力学曲线分析、氧化皮金相组织和断面形貌观察、X-ray分析表明:Te的加入在合金内部形成新相Cr2TeO4和Fe3TeO,提高合金材料氧化皮的粘附性.并且有效抑制Cr2O3的挥发反应,从而改善Cr2O3氧化层的致密性.     

Co—Cu—Sn三元系合金相图的室温截面

用Ｘ射线粉末衍射法对Ｃｏ－Ｃｕ－Ｓｎ三元系合金相图的室温截面进行了测定，得出了３１个相区，它们分别是９个单相区，１５个两相区，７个三相区。     

Preparation and thermoelectric properties of p-type Bi0.52Sb1.48Te3 + 3% Te thin films

Thin films of p-type Bi0.52Sb1.48Te3 + 3% Te were deposited on glass substrates by flash evaporation.X-ray diffraction and field-emission scanning electron microscopy were performed to characterize the thin films,and the effects of preparation and annealing parameters on the thermoelectric properties were investigated.It was shown that the power factors of the films increased with increasing deposition temperature.Annealing the as-deposited films improved the power factors when the annealing time was less than 90 min and the annealing temperature was lower than 250℃.A maximum power factor of 10.66 μW cm-1 K-2 was obtained when the film was deposited at 200℃ and annealed at 250℃ for 60 min.     

Al-Zn-Cu系室温低Cu侧的相平衡关系

通过显微组织观察和X射线衍射分析,结合电子探针分析,确定了在Al Zn Cu系中所设计的14个不同成分的合金经充分成分均匀化和平衡阶梯冷却至20℃的合金相组成及成分·在其中11个合金中发现了T′相(Al4Cu3Zn)的存在,测定了4个合金中的T′相的成分,并得到了新的相平衡关系·从另一个侧面证实了T′相在室温时(20℃)是可以稳定存在的,同时说明美国金属学会1997年出版的相图集中的Al Zn Cu系20℃等温截面相图在低Cu侧的相关系上是不正确的·     

铝镍钴永磁合金状态图的热力学——Ⅲ.Fe-Ni-Co-Al四元系两相分解面的测定与分析

作者们用多元扩散偶法测定了Fe-Ni-Co-Al四元系相图的850、900、950和1000℃的四个等温四面体。确认了α+α’两相分解面的存在及其与有序-无序转变曲面之间的关系;明确了加入钴后对此两相分解面存在范围的影响。同时还测出了γ+α相区的边界,明确了钴在扩大γ+α相区并改变此相区形状上的作用。文中还对钴的上述作用做了热力学分析。     

Al-Fe-Sn三元系合金相图

本文用x射线衍射分析法,电子探针显微分析法,研究和测定了Al-Fe-Sn三元系合金相图的室温截面。此截面包含有10个单相区,17个两相区和8个三相区。β、γ两个单相没有可查觉的固溶度,截面中没有出现新相。