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相似文献
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1.
针对高产量过程监测中提出的累计合格品数控制图(CCC-r图),即检验出r个不合格品前累计检验的产品总数,但当产品的不合格率开始偏离目标值时平均链长出现增加的问题.采用数值解方法,构造关于控制限的函数,利用Matlab软件数值求解最小值,优化了CCC-r图的上下控制限.结果表明:当准确定义了平均链长后,给出计算CCC-r图的平均链长表达式,就能消除ARL-biased的性能,同时能够有效降低了CCC-r控制图对于监测产品不合格率增加的反应时间,提升了监测产品退化的灵敏度.  相似文献   

2.
Г-分布是一种重要的非正态分布.研究了样本数较少时总体服从Г-分布的单侧均值控制图,给出了这种非正态分布的控制图的控制限计算方法和公式,并列出了利用该程序计算的一些参数下的控制限.  相似文献   

3.
针对在统计过程中控制图出现异常时发出信号时间长短的问题,将带有警戒限的中位值控制图推广到抽样区间可变的情形,设计了可变抽样区间带有警戒限的中位值控制图(WLVSI图),利用Markov链理论推导平均链长(ARL)公式,计算发信号前的平均时间,并与常规控制图、带警戒限的中位值控制图作出比较.结果表明:控制图的抽样区间可变时,发信号前的平均时间更短,较之固定抽样区间的控制图更合理,改进后的控制图用于实际生产中可提高效率,减少不合格品数,从而降低经济损失.  相似文献   

4.
Γ-分布是一种重要的非正态分布。研究了样本数较少时总体服从Γ-分布的单侧均值控制图,给出了这种非正态分布的控制图的控制限计算方法和公式,并列出了利用该程序计算的一些参数下的控制限。  相似文献   

5.
在大气环境监测中,为了保证实验室数据的准确性,提高数据的可比性,我们采用了质量控制图法对监测数据进行控制,并以氮氧化物监测中的质控数据为例,对此地进行了简要叙述,即用经整理的质控数据进行控制图参数的计算,算得中心线,3σ控制限、2σ警告限,绘得X-R控制图,以此来及时发现实验室中存在的问题,提高实验室的分析质量。  相似文献   

6.
提出了可变抽样区间的带警戒限均值控制图.利用转移概率流图(TPFG)方法得到了发信号前的平均样本数,进而推导出了发信号前的平均时间.  相似文献   

7.
为了有效地利用控制图技术,用指数加权滑动平均方法,对由于刀具磨损导致轴尺寸精度呈线性趋势变化进行预测,提出了应用MCEWMA控制图监视刀具磨损过程.在刀具使用期内,将刀具磨损及由刀具磨损带来的随机波动视为共同原因,对生产过程进行监视,避免了使用传统控制图时,产生频繁报警的弊端.最后,运用具体例子,说明控制图参数选择准则.  相似文献   

8.
对标准差控制图的一点讨论   总被引:4,自引:1,他引:3  
本文针对现有的国家标准标准差控制图的一些问题,在标准差的统计性质的基础上,讨论三种不同的非对称标准差控制图的势函数,并分别给出其在真实报警率下的上、下控制限系数。  相似文献   

9.
对过程实施统计质量控制的基本假设前提是观测值彼此独立,但实际工作中经常出现过程的观测值存在自相关的现象.若自相关过程的残差满足独立同分布条件,对残差实施控制图监视是解决自相关过程控制的方法之一.应用检测能力指数和平均运行长度两种衡量指标,分析了自相关过程由时间序列模型AR(1)描述时,残差控制图对过程均值变化的检测能力.结果表明,残差EWMA(φ≤1-λ)控制图对过程均值小偏移较灵敏,当φ<0时,残差EWMA控制图对过程均值大偏移的检测能力略差于残差Shewhart控制图.  相似文献   

10.
研究了估计参数对Poisson(转化成为指数)分布的控制图的影响,推荐了与参数已知时表现近似的Shewhart X图所需要的估计的样本容量,并且提供了小样本情况修正的估计控制限,以使得整体的误报率到达指定水平.  相似文献   

11.
结合WLE控制图和VSI EWMA控制图,提出了基于田口损失函数下的可变抽样区间的EWMA控制图(简称VSI EWMA平均损失控制图),它是一种在抽样区间可以变化的条件下能够同时检测过程均值和方差漂移的控制图;同时构造的新控制图通过添加控制限区分漂移类型,即在过程失控状态下区分是过程均值发生了漂移还是方差发生了漂移,或者两者都发生了漂移.通过与FP EWMA平均损失控制图及X-~S控制图进行比较,得出新构造的控制图对过程漂移具有更好的敏感性.  相似文献   

12.
根据映射理论,用映射困反映螺旋面的特性;内、外铣削螺旋面时的共轭界限即为映射曲线的渐近线;据映射图选择合理安装参数。  相似文献   

13.
For multivariate statistical process quality control with individual observations, the usually recom-mended procedure is HoteUing‘ s T^2 control chart. Using the T^2 statistic based on β distribution is an ex-act method for constructing multivariate control limits in low volume manufacturing, but it is not conve-nient in that the variation of sample size leads to a change in control limit. This paper presents an im-proved multivariate T^2 control chart whose control limit does not change with sample size, which is espe-cially useful when the samole size is small.  相似文献   

14.
总结了多年来山西省铝土矿勘查工作中在矿体边界控制方面存在的问题,提出了合理控制矿体剥蚀边界的建议  相似文献   

15.
基于专家系统的统计质量智能控制   总被引:1,自引:0,他引:1  
统计质量控制是质量控制的基本方法之一 ,质量控制图作为统计质量控制中的一个重要工具在制造企业中得到了广泛的应用 在计算机辅助质量系统中 ,采用人工智能技术实现控制图的智能分析、诊断与控制有着非常重要的意义 文章论述了专家系统在统计质量控制中的应用 ,对基于专家知识的质量控制图选择、模式识别和分析 /诊断专家系统的实现技术进行了深入的剖析  相似文献   

16.
控制图是统计质量管理的基本工具。运用控制图的重要问题在于弄清工艺波动是否归因于随机干扰。但这只能间接地从过程的非随机状态即控制图上点子的非随机排列来加以判断。通常基于多项分布建立起来的判断准则,由于忽视了点子出现顺序的信息,检出异常原因的能力很低。Schewhavt,Mostel-ler,Swed 和 Eisenhart 对此曾有所改进,但仍然丢掉了许多信息。作者在本文中试图阐明运用游程论判断控制图的优越性,并基于不同种类不同长度游程数的概率函数建立一套非随机状态的判断准则。对于同样的显著水平,按照这套准则,一般可以用比传统方法较小的样本及早揭示可能的异常原因。  相似文献   

17.
历史性能指标和设计性能指标的残差控制图可用于模型预测控制的性能评价,但是当外界干扰和模型变化很小或性能指标存在严重的自相关现象时,残差的-X-图很难检测出性能的变化。提出用残差的累积和控制图对模型预测控制性能进行监视,在Shell塔模型上的仿真实验表明了该方法解决问题的有效性。  相似文献   

18.
王昱应  姬炳忠 《河南科学》2002,20(3):230-233
在新参量正方形核素图中 ,在坐标差常数K方向的奇A核素的上界呈现出优美的三点共线对称规律 ,本文分析了以坐标差K =10~ 5上界为基础的三组平行共线对称组 (5 ,7,9) (6 ,8,10 ) ;(1,4,7) (2 ,5 ,8) ;(- 4,0 ,4) (- 3,1,5 )的联系 ,以向上左移的规则在稳定区上方外推出一系列奇A核素 ,以同一规则向下也能推得同类奇A核素 ,它们之间极可能存在着深刻的内在联系。这儿有可能象原子光谱中的可见光区域的两侧存在远红外 ,红外与紫外区域一样。  相似文献   

19.
自相关过程的残差控制图   总被引:16,自引:0,他引:16  
常规控制图应用的基本假设是从过程得到的观测值彼此独立。但许多过程出现了自相关现象。该文分别运用单值控制图和残差控制图就受控状况和失控状况的观测值对案例进行了分析比较。结果表明 :当过程存在自相关时 ,运用残差控制图更合适 ,但是 ,当自相关参数大于 0时 ,残差控制图检测过程异常的灵敏性有待提高。对于在现代生产过程中自相关数据 ,建议使用残差控制图 ,来代替传统的控制图  相似文献   

20.
针对影响单只股票短期交易价格的诸多风险因素及投资者如何做出投资决策的问题,以美股中的美国航空为例,采用主成分分析法和EWMA控制图结合的方案,对控制图检测出的异常点给予分析.并与Shewhart单值控制图和多元T方控制图进行对比.结果表明:所用方法可以更有效地对单只股票短期交易进行预警和监控.  相似文献   

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