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集成电路(IC)技术的迅速发展,对IC封装提出了越来越苛刻的要求。作为IC的”芯片载体”,IC封装不仅要满足Ic的电磁兼容、物理支撑、热管理等方面的要求,更要保持足够高的性能价格比。技术及市场的需求促使IC封装技术不断进步。 相似文献
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李煜 《河南大学学报(自然科学版)》2003,33(1):68-70
剖析了Internet Mail,Standard IC,Web-EDI和XML/EDI四种Internet EDI实现技术的机制,探讨了Web-EDI与IC相结合实现Internet EDI系统的方案。 相似文献
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非接触式IC卡读卡器是非接触式IC卡技术应用的关键之一。文中给出了门禁系统非接触式IC卡读卡器的设计方法,具体阐述了门禁系统非接触式IC卡读卡器的硬件电路设计和软件开发:给出了硬件电路原理图并对其作了详细的阐述,结合实例给出了非接触式IC卡读卡器设计的软件开发方法;简要介绍了门禁系统。 相似文献
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软件IC指的是可重用的软件部件。本文先论述了软件IC在结构化程序设计中局限性而在面向对象程序设计的可实现性,进而又从生成、技术、应用等方面介绍了软件IC,给出了构造大型复杂软件系统的新思路。 相似文献
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基于Rijndael算法的IC卡医保系统设计 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了Rijndael算法的设计原理、实现方法、目前存在的攻击方法,以及Rijndael算法在医保系统中的具体实现,分析了指纹IC卡的特点,提出了基于Rijndael算法的IC卡医保系统的设计原则和安全措施,还讨论了指纹识别技术在IC卡医保系统中的应用。 相似文献
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阐述了智能小区停车场管理系统的主要设计与实现方法,通过非接触式IC卡产生的信息流,结合软硬件系统及技术,实现了小区停车场的科学化管理. 相似文献
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在电子封装技术中,微电子封装更是举足轻重,所以IC封装在国际上早已成为独立的封装测试产业,并与IC设计和IC制造共同构成IC产业的三大支柱。本文介绍了对微电子封装的要求,以及未来微电子封装的发展趋势,其中着重介绍了芯片直接安装(DCA)优越性。 相似文献
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孙洪 《科技情报开发与经济》2012,22(2):28-30
介绍了我国国民的阅读现状,阐述了我国社区图书馆的发展及社区图书馆的现状,探讨了如何借鉴民营图书馆的发展经验结合信息共享空间(Information Commons,IC)理念,打造具有我国特色的社区图书馆。 相似文献
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小冲杆试验法及其在评定材料韧性方面的应用 总被引:4,自引:0,他引:4
多位研究者证明 ,作为微试样技术之一的小冲杆试验法可以代替传统试验方法测出材料的各项力学性能。本文简要介绍了这种新型试验方法的工作原理 ,并详细介绍和分析了用小冲杆试验技术测定材料延脆性转变温度 ( DBTT或 FATT)及断裂韧性 ( KIC或 JIC)等韧性指标的研究工作 ,探讨了将此项微试样技术用于高温服役材料韧性评定的可行性 相似文献
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用扫描电子显微镜(SEM)对集成电路芯片截面进行了分析,介绍了芯片截面的制备方法、结构显示和SEM观察技术,并对集成电路中一些重要的制造工艺进行了分析,得到了用其他方法较难得到的重要的器件几何参数。 相似文献
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Kmeans算法是一种基于样本相似度的聚类分析算法。金融IC卡推广是重要的国家发展战略。本文利用Kmeans算法探索山东省金融IC卡城市推广规划,有效加强了方案的准确性和针对性。 相似文献
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从智能卡加密技术的基本方法,论述了智能卡在网络安全体系中的作用和特点,提出了基于智能卡的网络安全系统应遵循的几个原则。 相似文献
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讨论了非接触型IC卡的信息安全技术,在应用中为保证非接触型IC卡的数据安全所采取的措施等问题. 相似文献
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基于 SMIC 0.18μm 1 P6MCMOS 混合工艺设计了一种适用于心电信号采集的模拟前端集成电路,主要由前置放大器、带通滤波器、工频滤波器及后级放大器等组成。通过采用低噪声前置放大器技术,有效地改善了模拟前端集成电路的信噪特性;通过采用陷波器技术,有效地抑制了50 Hz 工频干扰信号。模拟前端集成电路获得了43.44 dB的中频增益以及通带为0.0956—107.3 Hz;在0.1 Hz 与 100 Hz 频率处,模拟前端集成电路分别获得15.1μ槡V / Hz与745 nV / Hz的等效输入噪声电压;在1.8 V 电源电压条件下,模拟前端集成电路的静态功耗仅为槡912.5 nW。仿真结果表明,所设计的模拟前端集成电路适合于心电信号采集要求。 相似文献
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改造型高校信息共享空间研究 总被引:1,自引:1,他引:0
在论述信息共享空间基本概念和建设方式的基础上,提出了以现有高校电子阅览室为基础进行IC规划与建设的实现方法,并基于北京师范大学电子阅览室的现状,从实体层、虚拟层和支持层3个组成部分,详述了在规划与建设信息共享空间时可以利用的资源和信息共享技术。 相似文献
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集成电路的设计与测试是当代计算机技术研究的主要问题之一。CMOS集成电路测试技术,受到人们的广泛关注。本文介绍了CMOS集成电路测试技术基本原理和关键问题,探讨了电流测试的研究进展及现状,并提出了该技术的研究方向。 相似文献