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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
基于北京谱仪Ⅲ的离线软件系统,利用J/ψ蒙特卡罗样本和e~+e~-→强子的蒙特卡罗样本对单举K_S介子的探测效率展开了研究.结果表明两种样本K_S介子的某些主要动力学分布有一定差异,这些差异最终导致单举K_S介子总体探测效率约相差3%.该研究为后续对K_S介子的背景研究及截面谱测量提供了重要的参考价值.  相似文献   

2.
通过分析蒙特卡罗模拟BESⅢ探测器在BEPC-Ⅱ上正负电子对撞质心系能量为3.773 GeV处采集的e+e-→ψ(3770)→D的数据,研究了BESⅢ主漂移室对带电p介子和K介子的寻迹效率.同时,利用这一方法,可以确定数据和蒙特卡罗样本中的带电p介子和K介子寻迹效率之间的差异.  相似文献   

3.
基于BOSS软件框架,利用BESIII合作组产生的400 M单举ψ(3686)事例,研究在BESIII探测器上实现测量到cJ→ηη’分支比的可能性.以无信号事例的单举ψ(3686)样本为背景样本,以纯信号蒙特卡罗事例为信号样本,控制信号事例,在分别假设观测到cJ→ηη’衰变过程信号显著水平为3σ和5σ的情况下,得到该过程对应的分支比.  相似文献   

4.
研究J/Ψ介子衰变过程对OZI规则的破坏效应, 通过中间态K*K和ρπ计算其衰变分支比的贡献.  结果表明, J/Ψ→f0衰变过程的理论结果和实验结果相符, 即在该过程中对OZI规则的破坏较大.   相似文献   

5.
222Rn累积浓度的测量为研究对象,采用蒙特卡罗模拟方法,研究了圆筒形固体核径迹探测器的探测效率与圆筒体高度、固体核径迹片尺寸和形状之间的关系。研究结果表明:1)当圆筒形探测器半径和固体核径迹片尺寸一定时,圆筒形探测器的固有效率、击中效率以及总探测效率均随着探测器高度的增加而减小;2)当圆筒形探测器尺寸一定时,击中效率随着圆形固体核径迹片的半径增大而减小,固有效率和总探测效率会随着固体核径迹片半径的增大而增加;3)当圆筒形探测器尺寸和固体核径迹片面积相同时,采用圆形固体核径迹片的探测器和采用方形固体核径迹片探测器的固有效率基本相同,但前者的击中效率以及总探测效率明显都高于后者。  相似文献   

6.
使用基于北京谱仪Ⅲ探测器(BESⅢ)及其软件系统(BOSS)的蒙特卡罗模仿方法,给出了对D介子缪子半轻衰变分支比绝对测量的进行方法及其所能达到的统计精度.这些缪子半轻衰变是D0→Mμ+νμ和D+→Mμ+νμ,其中M表示K-,π-,K0,K*0等轻介子.  相似文献   

7.
介绍了K介子的产生,研究了KN相互作用与NN相互作用对K介子凝聚的影响,从核物质到CFL物质相变中K介子凝聚的性质,解释了超流夸克物质中的K介子行为.  相似文献   

8.
基于BOSS软件框架,利用5.06×10~8ψ(3686)蒙特卡罗样本,对单标记方法与遍举方法在ψ(3686)重子对衰变测量中的应用开展了研究.结果表明在未考虑次级衰变分支比的情况下单标记方法探测效率达到了34.35%,而遍举方法探测效率仅有3.79%.通过对比两种方法得到的探测效率、信噪比、信号事例数等,我们发现单标记方法在粲偶素衰变到重子对末态的测量中具有更大的优势.  相似文献   

9.
基于BOSS软件框架,利用5.06×108 psi(3686)蒙特卡罗样本,对单标记方法与遍举方法在psi(3686)重子对衰变测量开展了研究。结果表明在未考虑次级衰变分支比的情况下单标记方法探测效率达到了34.35%,而遍举方法探测效率仅有3.79%。通过对比两种方法得到的探测效率、信噪比、信号事例数等,我们发现单标记方法在粲偶素衰变到重子对末态的测量中具有更大的优势。  相似文献   

10.
通过J/Ψ→μ+μ-确定BES Ⅲ上J/Ψ总数   总被引:1,自引:1,他引:0  
基于BES Ⅲ离线软件系统BOSS6.3.4,研究J/Ψ衰变到μ+μ-的事例挑选、探测效率以及本底估计,并用此过程来确定BESⅢ上J/Ψ总数.实验结果显示:用这种方法能得到事例选择效率为55.55%;得到的探测效率与硬件结构相符合;很好地将来自J/Ψ衰变的本底压低,提供了估计QED本底的方法;最后得到蒙特卡罗样本的输入与输出差别为0.08%.以上结果说明该方法适合精确地确定BESⅢ上高统计量的J/Ψ总数.  相似文献   

11.
设 KRn是超立方体,主要研究关于超立方体内随机单形的两个仿射不变量m2(K)、S2(K)的渐近性质.作为方法的应用,得到了质心在原点体积为1的超平行体的迷向常数LK.  相似文献   

12.
采用三种不同氧化剂(FeCl3,(NH4)2S2O8以及由K2S2O8,CuSO4和NaHSO3构成的复合氧化剂),通过界面聚合法合成了聚邻甲苯胺.利用红外光谱、紫外可见光谱、粘度测定、扫描电镜和循环伏安等测定方法,对聚合物进行了表征,并对聚合物形貌、结构及性能进行了初步探讨.结果表明,界面聚合法合成的聚邻甲苯胺呈现出微米级颗粒状分布,颗粒直径大多在几百纳米范围内.所得聚合物表现出较好的电化学活性.采用FeCl3为氧化剂时,聚合物分子链的共轭程度、分子量以及电化学活性最佳.  相似文献   

13.
采用北京谱仪BESIII离线模拟软件系统BOSS6.5.1版本对重子衰变道J/ψ→■K0SΛ,J/ψ→KS0Σ+衰变过程进行了蒙特卡罗模拟研究,得到相应的探测效率及本底比率。数值研究结果表明:BESIII上的事例选择效率比BESII提高了两倍多,并且所有的本底事例数对信号影响基本可以忽略,根据J/ψ事例数、探测效率和衰变分支比计算出在BESIII上可以分别得到6 200±1 037和2 794±770好事例。该结果对BESIII上J/ψ总数的取数计划和实验数据分析具有重要的意义。  相似文献   

14.
Top-pion介子作为TC2理论特征粒子,它的存在与否是验证TC2模型的最直接的证据之一.我们在TC2模型框架下,对强子对撞机上带电top-pion介子与t夸克的关联产生过程(pp(p-p)→tΠt-)进行了研究.结果表明:在Tevatron上,通过该过程不易探测到带电的top-pion介子;而在LHC上,该过程年产生事例数可达104量级.因此,在LHC上很有希望探测到top-pion介子,并进一步检验TC2模型.  相似文献   

15.
在BOSS软件框架下,利用BESIII实验组产生的ψ(3 686)单举Monte Carlo数据样本,通过对衰变过程ψ(3 686)→X(ppˉ)?的研究,分析了pp ˉ 的质量阈值增强X(ppˉ)在BESIII探测器上实现测量的可能性.以无信号事例的单举ψ(3 686)样本为背景样本,以纯信号Monte Carlo事例为信号样本,控制信号事例,假设观测到质量阈值增强的信号统计显著水平为3σ和5σ,在这两种情况下,分别给出了所研究过程的衰变分支比.  相似文献   

16.
利用夸克-双夸克模型和优势碎裂函数,描述在横向极化部分子分布函数研究中的重要分析量Collins moment。在HERMES实验中,非极化正负电子束在横向极化氢靶上进行半单举深度非弹性散射,会产生正负π介子;通过理论模型计算,并针对HERMES实验的动力学参量范围(0.023相似文献   

17.
在Stumpf和Badur(1990年)的研究基础上,分析了某些与弹塑性分解FFeFp有关的问题,指出使用积分解FFeFp没有机会为塑性旋率提供独立的本构方程.因为塑性旋率在使用分解FFeFp的情况下不是独立的量,它可以用应变率(弹性及塑性)以及应变(弹性及塑性)来表示.特别针对有限刚塑性变形(金属材料多属此类)作了较为详细的分析,并给出塑性旋率的显式表达、背应力的客观率及其与Zaremba-Jaumann率之间的关系.  相似文献   

18.
谱仪的探测效率表征了探测器接收和记录信息的能力.为了更精确的测量α放射性核素的活度,定准α能谱仪的探测效率是非常必要的.本文利用查圆面源对窗的几何因子表和基于蒙特卡罗思想的MatLab模拟这两种方法对α谱仪探测效率进行了理论计算,并用Matlab软件对这两者所得的数据进行了比较分析,结果表明在5.5%的.对误差范围内两者可以近似相等.通过241 Am标准面源与氡子体标准源对α谱仪的探测效率进行了测量,发现用241 Am标准面源测得的探测效率与理论计算的探测效率相差很大,用氡子体标准源测得的探测效率与理论值符合的很好.研究表明241 Am标准面源的活度的均匀性与准确性以及尺寸定位的准确性是造成241 Am标准面源探测效率实验值与理论计算值差异的主要原因.  相似文献   

19.
 研究了高阶线性齐次微分方程
f (k)+Ak-1(z)Pk-1(e z)f +…+A1(z)P1(ez)f +A0(z)P0(ez)f=0
解的增长性,其中Aj(z)≠0(j=0,1,…,k-1)是整函数,Pj(ez)(j=0,1,…,k-1)是ez的非常数多项式,它们的常数项都为零,且次数不相等。证明了该微分方程的每一个非零解有无穷级。  相似文献   

20.
机械强度可靠性灵敏度分析的拟蒙特卡罗法   总被引:1,自引:0,他引:1  
虽然蒙特卡罗方法具有程序结构简单,计算效率与问题维数无关的优点,但工程结构的失效概率往往很小,要获得精确的结果就需要大量样本,因而计算效率低.针对这一问题,采用Halton序列代替伪随机数并结合重要抽样方法,提出计算可靠性灵敏度的拟蒙特卡罗法.该方法与传统蒙特卡罗法相比显著减少了样本,提高了计算效率,并且误差是确定的.以齿轮为研究对象,通过对接触疲劳可靠性及可靠性灵敏度进行分析,证实了该方法在计算效率上的优势.  相似文献   

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