网络阶数变化条件的研究

本文依据网络方程,对线性有源网络阶数变化的条件做了初步研究探讨,给出了线性有源网络阶数与相应无源网络阶数相同的充分性条件,同时也对网络升阶情形做了分析,並给出了升阶的充分性条件。     

有源网络升阶和降阶的拓扑结构和参数条件

影响有源网络阶数的因素有两个方面:一是网络的拓扑结构;二是元件参数。本文着重研究有源网络升阶和降阶必备的拓扑结构和参数条件,给出一些相应的判断定理。它揭示了有源网络阶数千变万化的本质。     

有源全通网络

本文论述了有源积成滤波网络中,仍处于新兴阶段的有源全通网络的原理、特性及有源网络的全通条件。同时示出了有源网络实现全通的几种可能的基本网络形式,并给出了它们的传输特性。介绍了二则有源全通网络应用的简单示例。     

反馈放大器的“简洁”条件

在基本放大器近似为单向有源网络的前提下,求得了四种反馈放大器的“简洁”条件。在“简洁”条件下,反馈放大器的传递函数和输入、输出阻抗具有简洁和便于应用的形式。     

反馈放大器的“简洁”条件

在基本放大器近似为单向有源网络的前提下,求得了四种反馈放大器的“简洁”条件。在“简洁”条件下,反馈放大器的传递函数和输入、输出阻抗具有简洁和便于应用的形式。     

有源网络的零泛器模型分析法

本文在节点分析法的基础上采用零泛器模型,提出了一种新的有源网络分析方法.这一方法使用简便,特别适用于有源网络的计算机辅助分析.     

一种新的有源网络可靠性参数及其算法

为了解决现有有源网络可靠性参数不能描述网络中源点与指定节点集中一定百分比端点间连通能力的问题,提出了一种新的有源网络可靠性参数——S(k/N)T可靠度,并阐述了参数的具体概念与内涵,解释了它与经典有源网络可靠性参数的关系.通过将S(k/N)T可靠性的连通条件组合转化为SKT可靠性(源点到指定节点集K中所有节点的连通概率)的连通条件,建立反映SKT连通能力的K树,并基于容斥原理进行计算,给出了一套适用于S(k/N)T可靠度的精确算法,并对该算法进行了案例应用.结果表明,S(k/N)T可靠度参数符合工程需求,基于容斥原理的算法适用于系统二态性、故障独立性假设前提,同时考虑了端点故障和链路故障对网络可靠性的影响,可以得到精确解.     

有源网络分析中运放框图结构的探讨

本文讨论了分析有源网络中几种简单而实用的运放框图,提出了选择主反馈支路的概念,从而把一级运放电路等效为一个简单的结点求和框图,十分有利于复杂有源网络的工程分析。     

生成有源网络符号灵敏度的拓扑法

本文讨论用有向K-树生成有源网络符号灵敏度函数的方法,给出了十四种常用网络函数和网络参数的灵敏度公式.这些公式易于在计算机上生成有源网络的符号灵敏度函数.     

隐图的分解法产生有源有互感网络符号网络函数

本文在文献[1]的基础上,进一步提出了生成有源网络的符号网络函数的隐图法及其图的分解和树的求取,从而为处理较大尺寸的有源网络问题提供了一种新的方法。     

可测性设计技术的回顾与发展综述

介绍了可测性定义、起源和发展过程,简要分析了国内可测性技术的现况和存在问题。对可测性建模、度量、基本方法、相关国际标准、可测性设计平台和可测性技术发展趋势等几个核心问题进行了探讨。     

模拟电路可测拓扑条件和可测性分析及可测性设计

深刻地阐述了系统的可测性问题 ,提出了从可测性分析和可测性设计两方面进行研究的观点 .针对支路故障诊断法 ,讨论了可测拓扑条件、可测性分析和可测性设计问题 ,提出了几个新的必要且几乎充分可测拓扑条件 ,并依据这些条件给出了可测性分析和可测性设计的一些方法     

某型地空导弹测试模型划分的研究

各种高性能现役武器系统在长期的外场使用中暴露出的主要问题是：武器系统的测试性差、BIT未能满足使用要求和测试设备的效能差、数量多。为此提出测试性设计。并通过测试性分析来检验设计质量和引导改进设计。测试性设计要求既满足装备自身设计的兼容性又满足其整体作战战斗力的恢复和保障的一致性。简要阐述系统级测试性设计理论．重点结合某地空导弹作战系统对系统测试性模型划分理论进行讨论和验证,并提出问题。     

A Novel Register Allocation Algorithm for Testability

In the course of high-level synthesis of integrate circuit, the hard-to-test structure caused by irrational schedule and allocation reduces the testability of circuit. In order to improve the circuit testability, this paper proposes a weighted compatibility graph (WCG), which provides a weighted formula of compatibility graph based on register allocation for testability and uses improved weighted compatibility clique partition algorithm to deal with this WCG. As a result, four rules for testability are considered simultaneously in the course of register allocation so that the objective of improving the design of testability is acquired. Tested by many experimental results of benchmarks and compared with many other models, the register allocation algorithm proposed in this paper has greatly improved the circuit testability with little overhead on the final circuit area.     

Generalized Testability Scheme Modeling of Materiel System Based on Information Ontology

A mode of ontology-based information integration and management( OIIM) for testability scheme was proposed through expatiating on the connotation of the system testability scheme.Aiming at the complexity of influencing factors in optimal design procedure of the testability scheme, the information of concept entities,concept attributions and concept relationships was analyzed and extracted,and then the testability scheme information ontology( TSIO) was built and coded via web ontology language( OWL).Based on the information ontology, the generalized model for testability scheme( GMTS) was founded by defining transformation rules. The primary study shows that the mode of OIIM for testability scheme can make up the deficiencies in knowledge representation and reasoning existing in traditional information models,and achieve the information share and reuse. It provides the effectual model basis for the optimal design of the testability scheme.     

基于符号方法的模拟电路可测度分析

现有电路可测度符号分析方法在低可测度电路故障诊断中没有考虑元件故障模糊组的影响。可测度分析时需要计算所有元件参数组合的可测度,但实质上其中部分参数组合的可测度是相同的,不必重复计算。鉴于上述问题,在可测度符号分析方法的基础上,提出根据系数依赖矩阵划分元件故障模糊组,将各个模糊组中的元件参数赋值后计算电路可测度。该方法减少了符号法可测度分析的计算量,适用于模拟电路的自动测试与故障诊断。     

基于合约的构件易测试性设计支撑工具的设计与实现

构件技术的新特点为构件测试带来挑战.合约式设计是一种重要的软件易测试性设计方法.基于合约的构件易测试性设计为构件测试提供了一种有效的手段.设计并实现了一种新的合约式设计工具(PKUJDBCT),为构件的易测试性设计提供有力的支撑,并为今后进一步研究基于合约的构件易测试性设计方法打下了良好的基础.     

基于自动测试生成的寄存器分配算法

提出了在寄存器分配时考虑可测性的一个新算法。它采用前向 /后向算法 ,将一个已调度好的 CDFG (ControlData Flow Graph)中的变量分配到相应的寄存器。通过对变量生命时间定义的扩展 ,本算法可以对带反馈的电路进行处理。在定义变量之间的寄存器复用相关函数时同时考虑了 3个准则 ,达到提高设计可测性的目的。实验结果表明了算法的有效性     

基于可测性分析的高层次寄存器分配算法

为了提高综合后电路的可测性,提出了一种面向电路可测性的寄存器分配方案.该方案首先从已调度的数据流图着手,建立了一种可用于高层次综合的行为级可测性分析方法:对算子模块的门级实现进行门级可测性分析,并进而抽象出算子的行为级可控性/可观性值;在数据流图中,逐级计算出各节点变量的行为级可测性指标;然后按照最大改善可测性指标的原则,进行寄存器分配.在标准电路上的实验表明,除了较小的面积开销外,电路的可测性优于所对照的其他2种方法.     

基于内建自测试的伪随机测试向量生成方法

内建自测试作为一种新的可测性设计方法,能显著提高电路的可测性.本文研究了内建自测试中的测试向量的生成方法,详细介绍了由线性反馈移位寄存器构成的伪随机序列生成电路的原理,给出了由触发器和异或门构成的外接型、内接型以及混合型伪随机序列生成电路.