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基于白光干涉技术的黏性土真实接触面积细观试验研究
引用本文:杨苏春,张明义,刘俊伟,管金萍,王永洪,白晓宇.基于白光干涉技术的黏性土真实接触面积细观试验研究[J].济南大学学报(自然科学版),2020,34(5).
作者姓名:杨苏春  张明义  刘俊伟  管金萍  王永洪  白晓宇
作者单位:青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033;青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033;青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033;青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033;青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033;青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033
基金项目:国家自然科学基金;山东省重点研发计划项目
摘    要:为了揭示黏性土受压时的真实接触面积及细观物理参数的变化规律,利用白光干涉技术测量黏性土在高压应力作用下的真实表面轮廓,对不同压应力作用下表面轮廓点云数据进行分析,并通过Logistic函数推导极限压缩状态下的极限值。结果表明:压缩后的黏性土真实表面轮廓呈偏态分布,存在黏性土颗粒的支撑中心及颗粒压缩接触域;在106~529 MPa的压应力作用下,黏性土实际接触面积占截面面积的比例为0.375~0.431,表观孔隙率为52.5%~55.4%,随着压应力增大,孔隙范围有集中趋势且存在极限值;在支撑中心上、下1倍粒径范围内,表面轮廓分布存在极限渐进值。

关 键 词:白光干涉  黏性土  压应力  孔隙率  接触面积
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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