基于白光干涉技术的黏性土真实接触面积细观试验研究 |
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引用本文: | 杨苏春,张明义,刘俊伟,管金萍,王永洪,白晓宇.基于白光干涉技术的黏性土真实接触面积细观试验研究[J].济南大学学报(自然科学版),2020,34(5). |
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作者姓名: | 杨苏春 张明义 刘俊伟 管金萍 王永洪 白晓宇 |
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作者单位: | 青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033;青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033;青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033;青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033;青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033;青岛理工大学土木工程学院,山东青岛 266033 |
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基金项目: | 国家自然科学基金;山东省重点研发计划项目 |
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摘 要: | 为了揭示黏性土受压时的真实接触面积及细观物理参数的变化规律,利用白光干涉技术测量黏性土在高压应力作用下的真实表面轮廓,对不同压应力作用下表面轮廓点云数据进行分析,并通过Logistic函数推导极限压缩状态下的极限值。结果表明:压缩后的黏性土真实表面轮廓呈偏态分布,存在黏性土颗粒的支撑中心及颗粒压缩接触域;在106~529 MPa的压应力作用下,黏性土实际接触面积占截面面积的比例为0.375~0.431,表观孔隙率为52.5%~55.4%,随着压应力增大,孔隙范围有集中趋势且存在极限值;在支撑中心上、下1倍粒径范围内,表面轮廓分布存在极限渐进值。
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关 键 词: | 白光干涉 黏性土 压应力 孔隙率 接触面积 |
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