智能机内测试模拟系统中对微处理机的接入电源测试 |
| |
作者姓名: | 姬建新 |
| |
作者单位: | 西安理工大学高等技术学院 陕西西安710082 |
| |
摘 要: | 机内洲试技术(Built--in Test,简称BIT)是一种能显著改善装备或系统洲试性与诊断能力的重要技术手段。智能机内测试模拟系统足运用智能BIT技术的理论,开发出的一个对硬件设备在线洲试的模拟系统。智能机内洲试模拟系统在对智能的模拟方面运用嵌入式C语言中的数蛆,随机函数等方法来实现。从而体现出智能机内洲试的特点。本文描述了系统中对输入电源部分的洲试过程。
|
关 键 词: | 机内洲试技术智能BIT技术嵌入式C语言模拟系统 |
文章编号: | 1674-098X(2008)03(c)-0198-01 |
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录! |
|