| 双参数指数分布异常数据T型检验统计量的精确分布和检验效率 |
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| 引用本文： | 李云飞. 双参数指数分布异常数据T型检验统计量的精确分布和检验效率[J]. 西华师范大学学报(哲学社会科学版), 2006, 27(3): 296-299 |
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| 作者姓名： | 李云飞 |
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| 作者单位： | 西华师范大学数学与信息学院,四川南充637002 |
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| 基金项目： | 西华师范大学科研启动基金资助项目（058011） |
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| 摘 要： | 针对双参数指数分布样本中出现的多个异常大数据提出的T型检验统计量，推导出了其概率密度函数的精确表达式，利用该结果可以得到T型检验统计量的临界值．进一步讨论了该统计量的检验效率，表明利用T型检验可以避免Masking效应。
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| 关 键 词： | 双参数指数分布 异常数据 检验统计量 检验效率 Masking效应 |
| 文章编号： | 1673-5072（2006）03-0296-04 |
| 收稿时间： | 2006-05-15 |
| 修稿时间： | 2006-05-15 |
The Accurate Density Function and Testing Efficiency of the T-Type Test Statistic |
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| LI Yun-fei. The Accurate Density Function and Testing Efficiency of the T-Type Test Statistic[J]. Journal of China West Normal University:Natural Science Edition, 2006, 27(3): 296-299 |
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| Authors: | LI Yun-fei |
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| Affiliation: | School of Mathematics and Information, China West Normal University, Nanchong 637002, China |
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| Abstract: | Literature [ 1 ] gives T-type test statistic for detecting many outliers from the two-parameter exponential distribution. Based on literature [ 1 ], the paper derives the accurate density function of T-type test statistic. The paper also discusses the testing efficiency and the discussion indicates the test statistic can avoid the masking effect. |
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| Keywords: | two-parameter exponential distribution outlier test statistic testing efficiency masking effect |
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