| 用表面等离子体测量GaAs半导体的三阶光学非线性极化率 |
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| 引用本文： | 曲士良,杨向明.用表面等离子体测量GaAs半导体的三阶光学非线性极化率[J].哈尔滨师范大学自然科学学报,1998(4). |
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| 作者姓名： | 曲士良 杨向明 |
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| 作者单位： | 绥化师专(曲士良)，哈工大威海分校(杨向明) |
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| 摘 要： | 本文给出了用依赖于强度的表面等离子体色散关系研究三阶光学非线性极化率ｘ（３）的新方法．可得ｘ（３）的大小和符号．实验中所用激光波长为１．０５μｍ，样品为ＧａＡｓ，ｘ（３）（ω）～１．２×１０－９ｅｓｕ．
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| 关 键 词： | 表面等离子体 三阶光学非线性极化率 |
MEASUREMENT OF THIRD ORDER OPTICAL NONLINEAR SUSCEPTIBILITY OF SEMICONDUCTOR |
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| Qu Shiliang,Yang Xiangming.MEASUREMENT OF THIRD ORDER OPTICAL NONLINEAR SUSCEPTIBILITY OF SEMICONDUCTOR[J].Natural Science Journal of Harbin Normal University,1998(4). |
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| Authors: | Qu Shiliang Yang Xiangming |
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| Institution: | Qu Shiliang Yang Xiangming(Suihua Teachers College) (Harbin Institute of Technology) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Surface plasmons Three optical nonlinear susceptibility |
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