| 45nmCMOS工艺三模冗余加固锁存器的性能评估 |
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| 引用本文： | 黄正峰,王敏,李雪筠,鲁迎春,倪天明.45nmCMOS工艺三模冗余加固锁存器的性能评估[J].合肥工业大学学报(自然科学版),2020,43(3):364-369. |
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| 作者姓名： | 黄正峰 王敏 李雪筠 鲁迎春 倪天明 |
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| 作者单位： | 合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥230601,合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥230601,合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥230601,合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥230601,安徽工程大学电气工程学院,安徽芜湖241000 |
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| 基金项目： | 安徽工程大学科研启动基金;安徽省自然科学基金;国家自然科学基金 |
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| 摘 要： |
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| 关 键 词： | 三模冗余(TMR) 表决器 容错 晶体管级 |
Performance evaluation of triple modular redundancy hardened latches in 45 nm CMOS technology |
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| HUANG Zhengfeng,WANG Min,LI Xueyun,LU Yingchun,NI Tianming.Performance evaluation of triple modular redundancy hardened latches in 45 nm CMOS technology[J].Journal of Hefei University of Technology(Natural Science),2020,43(3):364-369. |
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| Authors: | HUANG Zhengfeng WANG Min LI Xueyun LU Yingchun NI Tianming |
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