双枪脉冲法测量介质二次电子发射特性

本文介绍测量绝缘介质二次电子发射系数的双枪方法,并在动态系统中进行测量。应用该方法,测量了典型样品MgF_2薄膜的二次发射特性。对于影响测量结果的诸多因素进行了定量的实验研究,并对实验结果作了初步分析和讨论。实验误差不超过6％。