另一种具有较高精度的残余奥氏体的X射线衍射测量方法

本文介绍一种实际可行的射线衍射测定残余奥氏体的方法。本方法属经验性的实验方法,它避免了文献中所介绍的繁复的计算过程,同时其精度仍然大大高于象文献[2]中所介绍的而目前仍为我国许多工厂所采用的方法。当试样中不存在明显的择优取向时,应用此法,奥氏体量的测量精度可达到±1～2％。