X射线衍射技术及其在材料表征实验的研究综述 |
| |
作者姓名: | 王存勇 曹丽 茆思聪 尚凤娇 周智涛 王峰 |
| |
作者单位: | 合肥师范学院电子信息工程学院,安徽合肥230601 |
| |
摘 要: | X射线衍射技术是一种不损害材料、无污染、精确测量并能得到样品完整结构信息的测量技术,在材料研究的众多领域得以应用。该文主要介绍了X射线衍射的产生及其工作原理,从物相分析、应力测量、晶粒尺寸和结晶度测量等方面概述了该技术在材料结构表征中的应用。
|
关 键 词: | X射线衍射 物相分析 应力 结晶度 |
本文献已被 维普 等数据库收录! |
|