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用于SPICEⅡ程序的耗尽型MOS器件模型
引用本文:魏同立,何野.用于SPICEⅡ程序的耗尽型MOS器件模型[J].东南大学学报(自然科学版),1986(5).
作者姓名:魏同立  何野
作者单位:南京工学院电子工程系,南京工学院电子工程系
摘    要:分析了SPICEⅡ程序模拟耗尽型MOS器件所遇到的限制及其原因,用线性区阈电压和饱区阈电压描述耗尽型器件线性区和饱和区特性,讨论了饱和区阈电压与线性区阈电压之差随衬偏电压变化的关系,建立了耗尽型MOS器件模型及其参数提取的新方法。模拟结果与实验基本吻合。

关 键 词:耗尽型MOS器件模型  线性区  饱和区  阈值电压
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