| 基于原子力显微镜抬高模式的DNA分子高度测量 |
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| 作者姓名： | 郭云昌 周星飞 孙洁林 李民乾 胡钧 |
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| 作者单位： | 中国科学院上海应用物理研究所单分子探测与单分子操纵实验室,上海,201800;中国科学院上海应用物理研究所单分子探测与单分子操纵实验室,上海,201800;宁波大学物理系,宁波,315211;宁波大学物理系,宁波,315211 |
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| 基金项目： | 本工作为国家自然科学基金重点项目(批准号:10335070,30200051,29579293和10304011)、中国科学院知识创新工程(批准号:KJ951-A1-603,KJ951-A1-409,KJ952-J1-469,KJCX1-06,KSCXⅠ-06)、中国科学院特别支持项目(批准号:STZ-00-07)、上海市科委纳米专项(批准号:0114NM070,00XK14029,0352NM118)、国家科技部项目(批准号:2002CCA00600,2003BA310A02)资助项目. |
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| 摘 要： | 在传统的轻敲模式原子力显微镜基础上利用抬高模式对DNA分子的高度进行了测量研究. 通过不断抬高针尖高度, 逐步减小针尖对样品的作用力, 以测量软样品的形变量, 并通过记录针尖的抬高高度来计算DNA分子的高度. 实验中利用抬高模式测得的DNA分子高度为1.5±0.2 nm, 而传统轻敲模式下测得的DNA分子的高度为0.8±0.2 nm, 表明针尖对DNA的作用力是导致传统轻敲模式测得DNA分子高度较低的重要因素. 同时本文采取的方法也适用于测量其他软样品的高度.
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| 关 键 词： | 抬高模式 原子力显微镜 抬高扫描高度 弹性形变 高度测量 |
| 收稿时间： | 2004-02-27 |
| 修稿时间： | 2004-06-14 |
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