单输出逻辑电路的最小测试集

本文了在[1]的基础上引入了逻辑电路C的实质变量和实质故障的概念,给出了构造实质半复盖矩阵的方法,从而得到了求单输出逻辑电路C的最小测试集的一个方法。用这个方法求最小集时可以节省大量的存储空间,并且产生最小集的效率也有所提高。如果用算法[2][3][4]对实质故障产生测试码,那么不仅避免了对非实质故障产生不必要的测试码,而且还不损失整个电路的故障复盍率。