| 电介质薄膜中的稳态导热与法向导热系数的尺寸效应 |
| |
| 引用本文： | 冯晓利,李志信,肖鹏,过增元. 电介质薄膜中的稳态导热与法向导热系数的尺寸效应[J]. 西安交通大学学报, 2001, 35(11): 1180-1183,1192 |
| |
| 作者姓名： | 冯晓利 李志信 肖鹏 过增元 |
| |
| 作者单位： | 清华大学工程力学系, |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(59 776013). |
| |
| 摘 要： | 通过非平衡分子动力学（NEMD）模拟预报了纳米电介质薄膜的法向导热系数，采用各向异性的非平衡分子动力学方案模拟了固体氩薄膜中垂直于膜平面的稳态导热，考察了对应于平均温度为45K的薄膜法向导热系数与膜厚度的关系，在氩薄膜厚度为2.124-10.62nm的范围内，薄膜法向导热系数显著低于相同温度下的大体积材料的实验值，并随膜厚度的减小而降低，具有显著的尺寸效应，在弛豫时间近似条件下得到的声子Boltzmann输运方程的近拟解表明，该尺寸效应归因于纳米薄膜的边界对载热声子散射作用的增强。
|
| 关 键 词： | 非平衡分子动力学 法向导热系数 电介质薄膜 尺寸效应 稳态导热系数 |
| 文章编号： | 0253-987(2001)11-1180-04 |
Steady-State Heat Conduction and Size Effect of Normal Thermal Conductivity in Thin Dielectric Films |
| |
| Feng Xiaoli,Li Zhixin,Xiao Peng,Guo Zengyuan. Steady-State Heat Conduction and Size Effect of Normal Thermal Conductivity in Thin Dielectric Films[J]. Journal of Xi'an Jiaotong University, 2001, 35(11): 1180-1183,1192 |
| |
| Authors: | Feng Xiaoli Li Zhixin Xiao Peng Guo Zengyuan |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | molecular dynamics thermal conductivity thin dielectric film size effect |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
