SmSrMnO巨磁电阻材料晶格不稳定性研究 |
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引用本文: | 王耘波,魏龙.SmSrMnO巨磁电阻材料晶格不稳定性研究[J].华中理工大学学报,1999,27(12):19-20,23. |
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作者姓名: | 王耘波 魏龙 |
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作者单位: | [1]华中理工大学电子科学与技术系 [2]中国科学院核分析技术开放实验室 |
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摘 要: | 对Sm2/3Sr1/3MnO3+δ巨磁电阻材料样品在77K至室温范围进行了正电子寿命谱和多普勒展宽谱测量,结果显示,正电子平均寿命τm随着温度的降低在200 ̄150K温区出现与晶格结构不稳定有关的反常下降,这一过程发生在磁有序起始温度之前;而伴随着绝缘体-金属型转变(115K),多普勒展宽谱参数S明显增另,表明了电子的离域化。
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关 键 词: | 晶格不稳定性 巨磁电阻材料 锰氧化物 钙钛矿型 |
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