| X射线荧光光谱法测定氢氧化镁中杂质含量 |
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| 引用本文： | 林治锋,张竞菲.X射线荧光光谱法测定氢氧化镁中杂质含量[J].大连海事大学学报(自然科学版),2010,36(Z1). |
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| 作者姓名： | 林治锋 张竞菲 |
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| 作者单位： | 林治锋,LIN Zhi-feng(大连海关化验中心,辽宁,大连,116001);张竞菲,ZHANG Jing-fei(大连海事大学,交通与物流工程学院,辽宁,大连,116026) |
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| 摘 要： | 为测定氢氧化镁中杂质元素含量,采用X射线荧光光谱(XRF)法进行重复性和准确性试验.结果表明,XRF法具有快速、无损、多元素同时测定、检测元素范围广等特点,重复性较好.XRF法测量结果与化学方法和电感耦合等离子体发射光谱(ICP)法的测量结果接近,准确性较好.
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| 关 键 词： | X射线荧光光谱法 氢氧化镁 杂质含量 |
Impurity determination of Mg(OH)2 with X-ray fluorescence spectrometry |
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| LIN Zhi-feng,ZHANG Jing-fei.Impurity determination of Mg(OH)2 with X-ray fluorescence spectrometry[J].Journal of Dalian Maritime University,2010,36(Z1). |
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| Authors: | LIN Zhi-feng ZHANG Jing-fei |
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