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| 集成电路测试数据减少技术综述 | |
| 引用本文： | 詹文法,程玉胜.集成电路测试数据减少技术综述[J].安庆师范学院学报(自然科学版),2013(2). |
| 作者姓名： | 詹文法 程玉胜 |
| 作者单位： | 安庆师范学院科研处;安庆师范学院计算机与信息学院; |
| 基金项目： | 安徽省自然科学基金“广义折叠技术研究”(10040606Q42)资助 |
| 摘 要： | 通过减少测试数据来减少测试成本是集成电路测试领域的热点之一。文章综述了测试数据减少技术,分析了每一种技术的优缺点,指出了该技术的发展需求和方向。 |
| 关 键 词： | 测试数据压缩 编码 内建自测试 测试集紧缩 |
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