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| X-射线荧光光谱法测定石灰石粉中的SiO2含量 | |
| 作者姓名： | 付云红 |
| 作者单位： | 本溪市化学工业学校,辽宁本溪,117022 |
| 摘 要： | 本法采用压片的方式将样品压制成片,通过X-射线荧光光谱仪来测定石灰石粉中的SiO2含量,本方法操作简便,分析周期短,结果符合允许误差要求,可用于生产检验。 |
| 关 键 词： | 石灰石粉 X-射线荧光光谱仪 SiO2含量 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
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