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端标记交替-连续编码测试数据压缩技术
引用本文:刘杰,梁华国,徐三子.端标记交替-连续编码测试数据压缩技术[J].合肥工业大学学报(自然科学版),2009,32(12).
作者姓名:刘杰  梁华国  徐三子
作者单位:1. 合肥工业大学,计算机与信息学院,安徽,合肥,230009;阜阳师范学院,物理与电子科学学院,安徽,阜阳,236041
2. 合肥工业大学,计算机与信息学院,安徽,合肥,230009
基金项目:国家自然科学基金资助项目,国家自然科学重点基金资助项目 
摘    要:为了提高测试数据压缩率,根据预先计算测试集的特点,文章提出了一种测试位重组算法和端标记交替一连续编码方案.采用一种算法对测试集所有模式的测试位进行重排,以便把模式中零散的0或1集中到测试模式的一端,增加长游程的长度,减少短游程的存在;采用码字重用对模式中的交替块、连续块和端连续块分别进行编码;通过给出的译码电路和实验结果,表明了本文编码压缩技术不仅获得很高的数据压缩率,还降低了测试功耗.

关 键 词:测试数据压缩  测试集  交替与连续长度码

A test data compression technique of end-flag alternation-run-length coding
LIU Jie,LIANG Hua-guo,XU San-zi.A test data compression technique of end-flag alternation-run-length coding[J].Journal of Hefei University of Technology(Natural Science),2009,32(12).
Authors:LIU Jie  LIANG Hua-guo  XU San-zi
Abstract:To improve testing data compression ratios,a test-bit-rearrangement algorithm and an endflag alternation-run-length code scheme are proposed based on the characteristics of preeomputed test sets.Testing bits of all test patterns are rearranged to fasten scattered 0 or 1 on ends of test patterns SO as to lengthen long run-lengths and decrease short run-lengths.Alternating blocks,run-length blocks and end-run blocks in test patterns can be encoded by a codeword-reusability scheme respectively.Finally,the presented decoder circuit and experiment results show that the code compression technique can achieve very much high data compression ratios and decrease testing power consumption.
Keywords:test data compression  test set  alternation and run-length code
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