|
|||||
|
|
| 非晶合金薄膜(Fe_(0.4)Ni_(0.2)Cr_(0.4))_(72)Si_(28)的电阻特性与温度及非晶度的关系 | |
| 引用本文： | 李华瑞,董克柱,陈立虹,尹秀兰,阎连洞,林宏平.非晶合金薄膜(Fe_(0.4)Ni_(0.2)Cr_(0.4))_(72)Si_(28)的电阻特性与温度及非晶度的关系[J].北京科技大学学报,1984(3). |
| 作者姓名： | 李华瑞 董克柱 陈立虹 尹秀兰 阎连洞 林宏平 |
| 作者单位： | 北京钢铁学院 (李华瑞，董克柱，陈立虹，尹秀兰)，北京无线电元件一厂 (阎连洞)，北京无线电元件一厂(林宏平) |
| 摘 要： | 测定了非晶合金薄膜(Fe_(0.4)Ni_(0.2)Cr_(0.4))_(72)Si_(28)在20-620℃范围内电阻随温度变化的曲线,以及这一变化与薄膜的物相构成及非晶度的关系。研究了这一合金薄膜电阻温度系数TCR随热处理温度的变化以及它与非晶度的关系。探讨了合金薄膜中Si的含量对TCR数值的影响及作用机理。指出了获得合金薄膜最佳电阻温度系数的一些可能的途径。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |