CdS晶体中载流子迁移率的测量 |
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引用本文: | 李振钢,赵智虹.CdS晶体中载流子迁移率的测量[J].天津师范大学学报(自然科学版),1996(4). |
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作者姓名: | 李振钢 赵智虹 |
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作者单位: | 天津师范大学物理系(李振钢),天津理工学院材料物理所(赵智虹) |
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摘 要: | 在室温下,我们测量了电场作用下CdS晶体中光生载流子的电流特性,由此计算出电子的迁移率为42cm2/V·S,空穴的迁移率为1.6×102cm2/V·S,激子在其寿命时间内移动约0.4mm.
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关 键 词: | 载流子 迁移率 激子 |
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