热处理对Y2 O3:Eu荧光薄膜结晶性能的影响 |
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作者姓名: | 张晓松 李岚 邹开顺 陶怡 |
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作者单位: | [1]天津理工学院材料物理研究所,天津300191 [2]河北工业大学信息学院,天津300130 |
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摘 要: | 运用热处理方法对电子束蒸发制备的Y2 O3:Eu荧光薄膜进行不同条件下的退火处理.用X射线衍射等手段表征Y2 O3:Eu荧光薄膜的成分、结构、表面形貌.实验表明随着温度的升高,薄膜的结晶状况得到改善,提高了薄膜的结晶性能.
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关 键 词: | 热处理 荧光薄膜 结晶性能 Y2O3:Eu 退火 FED 显示材料 场发射显示器 |
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