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| 硅-氧键离子性问题 | |
| 引用本文： | 高孝恢.硅-氧键离子性问题[J].科学通报,1983,28(18):1151-1151. |
| 作者姓名： | 高孝恢 |
| 作者单位： | 山西大学，山西大学，长春地质学院 太原，太原 |
| 摘 要： | 表示分子或晶体中离子性(?)％,常用的方法是由键合原子上的有效电荷被价数除。Barinskii等人已经用X-射线发射光谱K_a线位移测定了硅酸盐中硅原子的有效电荷值为1.42—1.25,由这些数值得到Si—O键的(?)％为35.5％—31.3％。 |
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