| 离散总试验时间变换及其应用 |
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| 引用本文： | 孙俊锁 程侃. 离散总试验时间变换及其应用[J]. 鞍山科技大学学报, 2000, 23(4): 287-292 |
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| 作者姓名： | 孙俊锁 程侃 |
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| 作者单位： | [1]鞍山钢铁学院数理系，辽宁鞍山114002 [2]中国科学院应用数学研究所，中国北京100080 |
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| 摘 要： | 给出离散寿命分布的总试验时间变换的表达式H*F（t)=∞∑i=0 αiIBi(t)和H*F(t)=∞∑i=0 αiIBi(t)并讨论两者的相互关系及其单调性、连续性、正则性等分析性质．另外．给出了按年龄更换问题的TTT图分析法，该方法的实质是在离散分布的正则TTT图上找出斜率最大的直线的端点P*N(t*N,H*N(t*N)),然后由t*N确定最佳更换年龄N*=F^-1(t*N。
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| 关 键 词： | TTT-变换 分析性质 年令更换问题 |
Application of the Discrete Total Time on Test Transform |
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| SUN Jun?suo ,CHENG Kan. Application of the Discrete Total Time on Test Transform[J]. Journal of Anshan University of Science and Technology, 2000, 23(4): 287-292 |
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| Authors: | SUN Jun?suo CHENG Kan |
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| Affiliation: | SUN Jun?suo 1,CHENG Kan 2 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | TTT?transfrom analytic prorerties age replacement problem |
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