方解石表面的原子力显微镜研究 |
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引用本文: | 廖立兵.方解石表面的原子力显微镜研究[J].科学通报,1993,38(17):1591-1591. |
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作者姓名: | 廖立兵 |
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作者单位: | 中国地质大学X光实验室,中国地质大学X光实验室,中国地质大学X光实验室 北京 100083,北京 100083,北京 100083 |
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摘 要: | 原子力显微镜(Atornic force microscope,简称AFM)是1985年Binnig等人发明的新型表面分析仪器叫,它和扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope,简称STM)都是当今唯一能在正空间直接观察物质表面结构并具有原子级分辨率的仪器,但与STM不同的是,原子力显微镜不仅能观察导电物质的表面,而且能观察不导电物质的表面,因而具有更为广阔的应用范围。由于大多数矿物为绝缘体,因此AFM对于矿物学的研究有着特殊的意
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关 键 词: | 原子力显微镜 表面 微形貌 方解石 |
收稿时间: | 1992-12-05 |
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