超微试样超簿片的制备

本发明属于一种现代物理测试制样的新技术,是采用电镀的方法镶嵌超微试样,然后进行两面磨处理,制成的试样既薄又不损坏超微物体的组织结构,适合于微米数量级且脆性大的样品制备。其制成的样品薄片可以小于2000A,进行透射电镜试验时图象清晰,为利用现代物理测试仪对超微物体的微观分析研究提供了方便。