Ge(313)表面能带结构分析 |
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引用本文: | 魏英耐,马润香.Ge(313)表面能带结构分析[J].郑州大学学报(自然科学版),2000,32(2):47-51. |
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作者姓名: | 魏英耐 马润香 |
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摘 要: | 使用紧束缚最近邻近似下的sp^3s模型,利用形式散射理论的格林函数方法,首次分析了半导体Ge的(313)高指数表面能带结构。采用层轨道表象及表面投影技术,给出了(313)表面在二维布里渊区高对称点的波矢分辨的电子态密度和表面投影能带结构。分析结果表明:(313)表面在-12eV到1eV的能区内存在6个主要的表面态,在此基础上讨论了各表面态的轨道特性、色散特性和局域特性等。
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关 键 词: | 表面态 态密度 半导体 锗表面 能带结构 |
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