JT54LS273型集成电路加速寿命试验研究

本文介绍了加速寿命试验中最为常用的阿伦尼斯模型,并按该模型选择JT54LS273型集成电路变化最大的关键参数,求得元器件在常温贮存时的数学模型,以常温贮存数据作为评价元器件加速贮存寿命的主要依据。选择同型号、同品种的元器件,进行高温加速贮存试验与常温贮存试验数据进行比较,并建立加速贮存试验模型。得出同一型号同一品种器件的高温贮存加速因子、高温贮存试验时间,提前得出器件长期贮存试验数据,以判断器件是否满足储存期要求,并给出试验结论。