对影响外延片表面质量的若干问题的研究 |
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引用本文: | 李普生.对影响外延片表面质量的若干问题的研究[J].甘肃科技,2016(19):43-45. |
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作者姓名: | 李普生 |
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作者单位: | 中国电子科技集团公司第四十六研究所,天津,300220 |
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摘 要: | 外延片作为制造多种分立器件的必须材料,其地位已愈发重要。外延片的表面质量对外延片整体质量有很大影响。本文对在外延片生产中,影响外延片表面,引起外延生产大部分不合格率的颗粒、暗点、滑移线等主要问题进行了研究,总结了批量生产中针对此类问题采取的预防改进措施。关注产品表面质量,减少或根除这些因素对外延片表面的影响,将对保证产品质量、提升产品合格率起到积极作用。
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关 键 词: | 半导体硅外延材料 表面质量 颗粒 暗点 滑移线 |
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