原位扫描电压法除去多壁碳纳米管的管壁 |
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引用本文: | 李秋红,王太宏.原位扫描电压法除去多壁碳纳米管的管壁[J].中国科学(E辑),2003,33(11):969-972. |
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作者姓名: | 李秋红 王太宏 |
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作者单位: | 中国科学院物理研究所,北京,100080 |
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基金项目: | 国家自然科学基金(批准号:69925410和60236010),国家重点基础专项经费(批准号:G2001CB3095)资助项目 |
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摘 要: | 碳纳米管可以具有金属性或半导体性, 这依赖于它们的手性. IBM公司有选择性地除去了多壁碳纳米管的管壁, 将多壁碳纳米管转变为具有金属性或半导体性的导体. 他们是将碳纳米管置于空气中, 并将其两端施加恒定的偏压实现的. 这里报道一种方法, 即在真空中碳纳米管两端通过反复施加扫描偏压, 原位除去单根多壁碳纳米管的管壁. 碳纳米管最外层与电极的直接接触及其热导率的高度各向异性促进了管壁的一一除去.
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关 键 词: | Joule热 热导率 击穿 多壁碳纳米管 |
收稿时间: | 2003-02-16 |
修稿时间: | 2003-06-27 |
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