| 基于扩展的关联模型的测试性分析技术研究 |
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| 引用本文： | 杨鹏,邱静,刘冠军.基于扩展的关联模型的测试性分析技术研究[J].系统工程与电子技术,2008,30(2):371-374. |
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| 作者姓名： | 杨鹏 邱静 刘冠军 |
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| 作者单位： | 国防科技大学机电工程与自动化学院,湖南,长沙,410073 |
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| 基金项目： | 国家“十一五”部委基金资助课题(51317040102) |
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| 摘 要： | 关联模型由信息流图和故障-测试关联矩阵两部分构成,该模型广泛应用于系统级的测试性分析与设计。为了便于分析反馈环路、故障传播的层次性、解析冗余测试等测试性参数,文章在故障-测试关联矩阵的基础上,构建了故障-故障关联矩阵和测试-测试关联矩阵,得到扩展的关联模型,并基于扩展的关联模型建立了模糊组、反馈环路、解析冗余测试、隐含故障、伪故障等测试性参数的数学模型,最后利用案例演示了扩展关联建模和测试性分析过程。
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| 关 键 词： | 测试性设计 测试性分析 扩展的关联模型 信息流图 关联矩阵 |
| 文章编号： | 1001-506X(2008)02-0371-04 |
| 修稿时间： | 2006年12月5日 |
Research on extended dependency model-based testability analysis |
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| YANG Peng,QIU Jing,LIU Guan-jun.Research on extended dependency model-based testability analysis[J].System Engineering and Electronics,2008,30(2):371-374. |
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| Authors: | YANG Peng QIU Jing LIU Guan-jun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | design for testability testability analysis extended dependency model information flow graph dependency matrix |
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