| 线阵CCD响应非均匀性的检测与校正 |
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| 引用本文： | 杨宁,李振辉.线阵CCD响应非均匀性的检测与校正[J].长春大学学报,2012(12):1468-1471. |
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| 作者姓名： | 杨宁 李振辉 |
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| 作者单位： | 长春理工大学机电工程学院 |
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| 摘 要： | 通过分析线阵CCD响应的非均匀性,提出了一种用于线阵CCD的非均匀性检测系统,并给出了基于最小二乘法的校正算法。在不同辐照度下采集各像素的灰度值,用最小二乘法求出期望的辐照度与灰度的对应关系,计算出各像素的修正系数,得到线阵CCD的校正矩阵,并对各像素的实际灰度值进行修正。实验结果表明,校正前灰度偏差达6.1,校正后只有0.02889,有效的改善了线阵CCD响应的非均匀性。
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| 关 键 词： | 线阵CCD 非均匀性校正 最小二乘法 |
Detection and Correction of Non-uniformity of Linear Array CCD Response |
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| YANG Ning,LI Zhen-hui.Detection and Correction of Non-uniformity of Linear Array CCD Response[J].Journal of Changchun University,2012(12):1468-1471. |
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| Authors: | YANG Ning LI Zhen-hui |
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| Institution: | (School of Mechatronical Engineering,Changchun University of Science and Technology,Changchun 130022,China) |
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| Abstract: | |
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