| 嵌入式存储器在SoC中的可测性设计 |
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| 引用本文： | 朱志辉,游敏惠. 嵌入式存储器在SoC中的可测性设计[J]. 重庆邮电大学学报(自然科学版), 2006, 0(Z1): 16-19 |
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| 作者姓名： | 朱志辉 游敏惠 |
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| 作者单位： | 重庆邮电大学,移动通信工程研究中心,重庆,400065 |
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| 基金项目： | 国家高技术研究发展计划(863计划) |
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| 摘 要： | 随着半导体工艺的发展,SOC芯片的规模越来越大,工艺尺寸却越来越小,并且内嵌的存储器在芯片中所占的比例也越来越大,传统的存储器可测性技术受到严峻的挑战,针对存储器的可测性技术及其在SOC中的实现进行了介绍和讨论.
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| 关 键 词： | 存储器内建自测试 可测性设计 |
| 文章编号： | 1004-5694(2006)增-0016-04 |
| 修稿时间： | 2006-02-20 |
DFT of embeded memory in SoC |
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| ZHU Zhi-hui,YOU Min-hui. DFT of embeded memory in SoC[J]. Journal of Chongqing University of Posts and Telecommunications, 2006, 0(Z1): 16-19 |
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| Authors: | ZHU Zhi-hui YOU Min-hui |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | SOC ASIC |
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