| 基于STC单片机的半导体材料特性测量仪的设计 |
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| 引用本文： | 张 坤,周凤星,柯晓娟.基于STC单片机的半导体材料特性测量仪的设计[J].科学技术与工程,2014,14(6):37-38. |
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| 作者姓名： | 张 坤 周凤星 柯晓娟 |
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| 作者单位： | 武汉科技大学 冶金自动化及检测技术教育部工程研究中心,武汉科技大学 冶金自动化及检测技术教育部工程研究中心,武汉科技大学 冶金自动化及检测技术教育部工程研究中心 |
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| 基金项目： | 低速重载机械早期故障稀疏特征识别的研究(61174106) |
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| 摘 要： | 针对冶金行业对半导体材料特性测试的要求,设计了一种基于STC单片机(micro control unit,MCU)和DMT48270T050_01W迪文串口液晶屏的在不同温度下测量半导体材料电阻率和电动势率特性的仪器,该仪器采用ADAM—3014专用弱电压放大模块,最低输入电压范围在0~10 mV,能精确测量设计电路中各阶段待测材料两端电压,同时设计一种阶梯升温的算法,实现了在一次升温过程中在多个温度点保持稳定以满足测试的要求。实验结果表明,采用该设计能够测得精度较高的电阻率和电动势率,并实现了炉温控制精度在±2℃。
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| 关 键 词： | 迪文串口液晶屏 弱电压放大模块 阶梯升温 STC单片机 |
| 收稿时间： | 7/9/2013 12:00:00 AM |
| 修稿时间： | 2013/9/26 0:00:00 |
Design of semiconductor material characteristic measuring instrument based on STC microcontroller |
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| ZHANG Kun,ZHOU Feng-xing and KE Xiao-juan.Design of semiconductor material characteristic measuring instrument based on STC microcontroller[J].Science Technology and Engineering,2014,14(6):37-38. |
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| Authors: | ZHANG Kun ZHOU Feng-xing and KE Xiao-juan |
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| Institution: | Engineering Research Center for Metallurgical Automation and Detecting Technology,Ministry of Education,Wuhan University of science and Technology,Engineering Research Center for Metallurgical Automation and Detecting Technology,Ministry of Education,Wuhan University of science and Technology |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | DW serial LCD screen the weak voltage amplification module stepped temperature STC MCU |
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