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IGBT器件的一种失效模式及其克服方法
引用本文:丘睦钦,徐彦忠,曹广军,李乃平.IGBT器件的一种失效模式及其克服方法[J].华中科技大学学报(自然科学版),1996(11).
作者姓名:丘睦钦  徐彦忠  曹广军  李乃平
作者单位:Qiu Muqing Dept. of Solid State Electronics,HUST,Wuhan 430074,China. Xu Yanzhong Cao Guangjun Li Naiping
摘    要:由IGBT器件组成的大功率桥式振荡电路的导通瞬间,如果驱动保护设置不合理,就会有一个十分尖锐的电流峰.结合IGBT器件结构,分析了造成该电流峰的原因,理论分析的结果与实验测试值相吻合.通过改进IGBT器件的驱动电路提出了消除电流尖峰的方法

关 键 词:IGBT  驱动电路  电流尖峰

The Turn On Current Surge of IGBT Devices and Its Impact on Safe Operation
Qiu Muqing Dept. of Solid State Electronics,HUST,Wuhan ,China. Xu Yanzhong Cao Guangjun Li Naiping.The Turn On Current Surge of IGBT Devices and Its Impact on Safe Operation[J].JOURNAL OF HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY.NATURE SCIENCE,1996(11).
Authors:Qiu Muqing Dept of Solid State Electronics  HUST  Wuhan  China Xu Yanzhong Cao Guangjun Li Naiping
Institution:Qiu Muqing Dept. of Solid State Electronics,HUST,Wuhan 430074,China. Xu Yanzhong Cao Guangjun Li Naiping
Abstract:
Keywords:IGBT  driving circuit  current peak
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