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非易失存储器数据安全性研究
引用本文:杨尊峰,曹金玲.非易失存储器数据安全性研究[J].天津师范大学学报(自然科学版),2006,26(2):63-66.
作者姓名:杨尊峰  曹金玲
作者单位:1. 天津大学,后勤管理处,天津,300072
2. 天津电子信息职业技术学院,天津,300132
摘    要:在应用非易失存储器AT24C64过程中,发现丢失数据的原因是由于CPU在上电与断电过程中,欠电压导致CPU失控,输出端口产生无数个干扰脉冲,干扰脉冲的组合生成了AT24C64的有效写命令,于是破坏了AT24C64的数据.该研究从两方面采取措施:(1)使用CD4051,CD4024的组合条件来控制AT24C64的写允许门-↑WTP,如同给写允许门—-↑WP加锁;(2)采用上电与断电时电压监测电路,一旦电源电压低于4.7V时,使CPU复位,消除CPU失控状态,以保证AT24C64的3根信号线稳定,进而保证了内部数据的安全性.

关 键 词:非易失存储器  数据安全性  数据丢失
文章编号:1671-1114(2006)02-0063-04
修稿时间:2005年12月5日

The Data Security Analysis of the Nonvolatile Memorizer
YANG Zun-feng,CAO Jin-ling.The Data Security Analysis of the Nonvolatile Memorizer[J].Journal of Tianjin Normal University(Natural Science Edition),2006,26(2):63-66.
Authors:YANG Zun-feng  CAO Jin-ling
Abstract:The data lossing causes of nonvolatile memorizer(NVM) AT24C64 was when the system power put on or off,the CPU will output a sequence of noisy pulses may combine into a writing command of AT24C64,and start a writing cycle.Based on these observations,two methods for solving this problem were proposed.Firstly,CD4051 and CD4024 were used to protect the writing enable bit(WP). Secondly,a voltage monitoring circuit was utilized to guarantee CPU always being in its stable state,and to avoid the data loss and corruption.
Keywords:nonvolatile memorizer  data security  data loss  
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