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| 低功耗测试研究进展 | |
| 引用本文： | 方芳,王伟,王杰,陈田,杨年宏.低功耗测试研究进展[J].合肥工业大学学报(自然科学版),2009,32(6). |
| 作者姓名： | 方芳 王伟 王杰 陈田 杨年宏 |
| 作者单位： | 1. 合肥工业大学,计算机与信息学院,安徽,合肥,230009;合肥工业大学,管理学院,安徽,合肥,230009;中国科学院,计算技术研究所系统结构重点实验室,北京,100090 2. 合肥工业大学,计算机与信息学院,安徽,合肥,230009;中国科学院,计算技术研究所系统结构重点实验室,北京,100090 3. 合肥工业大学,计算机与信息学院,安徽,合肥,230009 |
| 基金项目： | 国家高技术研究发展计划(863计划)，中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室开放课题，合肥工业大学科学研究发展基金，高等学校博士学科点专项科研新教师基金，中国博士后科学基金 |
| 摘 要： | 随着CMOS器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗,测试功耗已成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点.文章首先介绍了低功耗测试技术的基本概念,分析测试中的静态功耗和动态功耗;其次,分类介绍目前常用的测试功耗控制技术;然后,对研究热点的变化和技术发展的趋势做出说明. |
| 关 键 词： | 测试功耗 低功耗 芯片设计 |
Research on progress of low-power testing |
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| FANG Fang,WANG Wei,WANG Jie,CHEN Tian,YANG Nian-hong.Research on progress of low-power testing[J].Journal of Hefei University of Technology(Natural Science),2009,32(6). | |
| Authors: | FANG Fang WANG Wei WANG Jie CHEN Tian YANG Nian-hong |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
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